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Er掺杂光纤激光器
: >100 mW, TEM00,线偏振或光纤输出 (FC/APC)工作光输出: FC/APC (~1 mW)RF 输出:SMA锁模状态:SMA 运用Er3+ Yb3+共掺杂光纤作为激光增益介质,采用
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高掺杂EDF掺铒光纤
应用范围DWDM放大器CATV放大器980nm或1480nm泵浦陆地或水下通信国防、军工及航空航天领域参数产品类别掺杂光纤光纤类型EDF40-F吸收峰值1532nm1(Max.[1530
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表面视像缺陷检测系统
型号: isra本产品操作简单,使用便捷。 表面视像缺陷检测系统的主要优点:1、技术领先,60MHz高速行扫描CCD技术,每秒可最大扫描14,000次,防止漏验。2、独特的LED
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电池缺陷检测仪
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PIXARGUS在线表面杂质缺陷检测系统
里程碑式创新的全自动在线检测,专门用于密封件,管材件和线缆 表面杂质缺陷检测在线表面杂质缺陷检测系统里程碑式创新的全自动在线检测,专门用于密封件,管材件和线缆 表面杂质缺陷检测专业汽车产品
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LCD/OLED缺陷自动光学检测系统
。能够像人那样进行“目测”,而且具有高度的可靠性和可重复性 使用影像亮度色度计系统和相关分析软件,可以评估 FPD 的亮度、色彩均匀度和对比度,并识别 FPD 上的缺陷,这种用途已经被广为接受。影像
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德国OCS高速颗粒缺陷扫描仪
对应期望处理量的不同,系统可以检测100微米以上的缺陷比如黑点、色差以及其他用户定义缺陷, 并将缺陷分为10个尺寸级别。 OCS粒子扫描系统PS-400C被广泛用于颗粒(粒子)的光学质量
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TOPTICA 超快铒掺杂光纤激光器FemtoFiber-dichro系列
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WEP+CVP21+电化学ECV ,掺杂浓度PN结深测试
:氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等… II-VI族化合物半导体如:氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等… 其他不常见半导体
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Eagle Vision EV糖果类淀粉模具缺陷智能检测系统
产地属性欧洲糖果加工的淀粉模具检测 (SMI)能够保证糖果的生产效率和质量。 EV糖果类淀粉模具缺陷智能检测系统糖果加工的淀粉模具检测 (SMI)能够保证糖果的生产效率和质量。能够降低废品率和
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