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WinWInTec白光干涉形貌仪
应用领域:Wafer晶片,微流控系统,金刚石工具,汽车气缸,光学镜片,金属表面,机身外观(汽车),粗糙度标准片。详情见产品手册。technology measurement principle
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硅片表面形貌测量 AFM
价格电议英国 NanoMagnetics 原子力显微镜硅片表面形貌测量 上海伯东代理的英国 NanoMagnetics 原子力显微镜硅片表面形貌测量应用, 某高校老师通过原子力显微镜进行硅片
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三维形貌仪
NanoMap-1000WLINanoMap-1000WLINanoMap-1000WLI三维形貌仪是非接触式三维高清图像的光学轮廓仪白光干涉仪器 - 白光干涉带来了高的分辨率、 400万像素
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石英传像束
产品参数:ParametersValueSize(像束有效通光截面)1mm x 1mm—27mm x 27mmElement(单丝直径)20-27μmLength( 长度)6M—20M数值孔径
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(像增强型)
特点:帧频可达190476帧每秒内置像增强器,满足高速弱光成像需求蓝光波段增强,量子效率>50%@500nm可选紫外波段响应:200~700nm最短曝光时间50ns像增强器分辨率可达
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硅片表面形貌测量VIT系列
profile3DIC TSV and BWS TTV硅片表面形貌测量Film Stress薄膜应力量测仪FEOL Electrical Characterization 电学特性Thin wafer
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三维表面形貌仪
、数据配置、扫描、屏蔽和插值。交互缩放。X-Y和线段剖面。三维线路、混合和固定绘图。用于阶越高度测量的地区差异绘图。 主要特点: ◆微观二维(2D)和三维(3D)形貌轮廓获取
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三维表面形貌仪
三维表面形貌仪参数:定位台行程范围:X: 200 mm Y: 200 mm Z: 200 mm (电动)接触式测量范围: 范围0.1mm, 分辨率2nm, 速度 3mm/s
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WAZAU 高温三维形貌仪
该款三维形貌仪为Wazau公司与德国联邦材料测试所BAM联合研发,具有全球首款高温形貌仪zl,测试温度可达1700℃,可用于材料淬火或烧结过程中的实时形貌分析。现代制造工艺和不断提高的质量要求
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Alicona InfiniteFocusSL表面形貌测量仪
(Sa):50nm InfiniteFocus SL三维表面形貌测量仪由奥地利Alicona公司研发并生产,操作原理是世界领先的全自动变焦(Focus-Variation)技术,该技术是光学系统的小
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