透射电子显微镜(透射电镜、TEM)
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赛默飞世尔Spectra S/TEM透射电子显微镜
赛默飞
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赛默飞Meridian EX Semiconductor半导体故障隔离系统
赛默飞(原FEI)
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国产场发射透射电子显微镜 TH-F120
国仪量子
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牛津仪器AZtecTEM软件
牛津仪器
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TESCAN 4D-STEM TENSOR
泰思肯
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CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) 场发射冷冻透射电子显微镜
文明机电
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JEM-ARM200F NEOARM 原子分辨分析型球差校正透射电镜
日本电子
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赛默飞(原FEI)Talos F200C TEM透射电镜
欧波同
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CAMECA 三维原子探针 Leap 5000
CAMECA SAS
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新一代低电压透射电子显微镜-LVEM 25E
Quantum Design中国子公司
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扫描电子显微镜
技术参数:●二次电子图像分辩率:3.5mm ●倍率: X20~X300,000 ●加速电压: 0.5~30kv ●样品可观察范围: 125mnφ 新一代的
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Scios DualBeam 电子显微镜
高级检测技术是 FEI Scios 的核心技术。透镜内 FEI Trinity™ 检测技术能够同时收集所有信号,既节省了时间还能形成鲜明的对比度,从而有助于采集尽可能多的数据。创新的透镜下同
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扫描式电子显微镜
间距离 角度测量:角度 面积测量:圆和多角形 计数:颗粒计数 分子泵:420升/秒 机械泵:100升/秒 4)高性能,高配置,延续了JEOL扫描电子显微镜的图象质量,标配低真空系统和电
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Themis透射电子显微镜
多种材料的出色原子级表征 Themis Z Themis Z 通过单一物镜极靴设计,可针对二维、三维和四维材料进行高分辨率的低损、高灵敏度成像和分析
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台式扫描电子显微镜SEM
SNE-4500G台式扫描电子显微镜SEM主机A. 技术参数1. 分辨率:5nm (30kV, SE Image)2. 放大倍率:30x~100,000x (有效放大倍率60,000x)3.
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CleanCHK
CleanCHK 平台CleanCHK 可用于 FEI 的 Aspex Explorer。Aspex Explorer 是唯一一款面向工业应用的自动化实验室 SEM,而且安装位置几乎没有限制
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MagnaRay X射线波谱仪
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赛默飞Metrios 6扫描透射电子显微镜((S)TEM)
透射电子显微镜人工智能、边缘计算、自动驾驶汽车和其他先进应用正在推动半导体领域前所未有的投资和创新。提高生产力和数据完整性全新设计的 Smart Stage 和新的 Ultra-X EDS 检测系统可
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赛默飞(原FEI)Aquilos 2 Cryo-FIB冷冻聚焦离子束显微镜
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赛默飞Meridian EX Semiconductor半导体故障隔离系统
使用电子束探测进行半导体失效分析Thermo Scientific Meridian EX 系统是一种基于电子束的创新解决方案,用于在高级逻辑设备中精确定位缺陷。它采用突破性的电子束技术,可以从
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