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Shearography剪切散斑干涉无损检测系统
FlawScout 是一种用于无损检测(NDT)和质量控制应用的检测解决方案,通常用于复合材料和金属材料。激光错位散斑干涉技术是一种适用于航空、汽车、风力发电、船舶、纺织等复合材料相关行业的
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Shearography剪切散斑干涉无损检测系统
(Wrinkles)压碎核(Crushed core)等缺陷· 碳纤维、玻璃纤维、层压板、蜂窝等复合材料的缺陷检测 该Q-810系统可以检测多种缺陷,包括褶皱(Wrinkles)、干斑
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散斑振动测试系统
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激光散斑实验装置
技术参数:本实验装置主要面向大专院校教学使用。主要用来了解激光散斑现象,了解一种如何利用散斑测量横向极小位移的方法。本实验采用了CCD测量技术,利用计算机对图象进行处理,使实验更贴近现代科学技术的
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电子散斑干涉实验系统
仪器介绍 电子散斑干涉(ESPI)实验系统借助于粗糙表面信息的携带者——散斑来研究物体离面形变,是计算机图像处理技术、激光技术以及全息干涉技术相结合的一种现代光测技术。激光的高相干性使散
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CWT电流探头
for 12V (±10%) DC inputOutput load≥ 100.0 kohm (for rated accuracy) CWT电流探头是一款易于使用、小巧,灵活的电流测量工具,夹在
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SuperNova微焦斑单晶衍射仪
1. 检测器:采用级别zei高、缺陷率zei低的CCD芯片,是高灵敏度和大有效探测面积的zei佳组合,适合于收集蛋白质晶体和小分子晶体的衍射数据。 2. 光源:(1)双光源
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电子散斑干涉测量仪(ESPI)
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美GMW 电流测量
DaniSense DC/AC High Accuracy Current TransducersPEM CWT Ultra Mini AC Current ProbePEM CWT
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压控电流源
特点:1.压控/程控2.可输出压控交流电流3.可叠加直流偏置4.纯净、低噪声SRS最新推出的压控电流源CS580,具有独特的超低噪声设计,能够产生高精度的压控电流,适用于半导体、超导和纳米科技
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