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硅片表面形貌测量VIT系列
硅片表面形貌测量VIT系列NEW: Virtual Interface Technology for 3D-IC Metrology:-TSV profile (depth, bottom CD
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硅片表面形貌测量 AFM
价格电议英国 NanoMagnetics 原子力显微镜硅片表面形貌测量 上海伯东代理的英国 NanoMagnetics 原子力显微镜硅片表面形貌测量应用, 某高校老师通过原子力显微镜进行硅片
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原子力显微镜|英国 NanoMagnetics|硅片表面形貌测量
价格电议!!!英国 NanoMagnetics 原子力显微镜硅片表面形貌测量 上海伯东代理的英国 NanoMagnetics 原子力显微镜硅片表面形貌测量应用, 某高校老师通过原子力显微镜进行
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Alicona InfiniteFocusSL表面形貌测量仪
(Sa):50nm InfiniteFocus SL三维表面形貌测量仪由奥地利Alicona公司研发并生产,操作原理是世界领先的全自动变焦(Focus-Variation)技术,该技术是光学系统的小
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马尔形貌轮廓表面粗糙度测量仪
方向,相对探针针头:0.38 μm(350 mm 测杆)/ 0.19 μm(175 mm 测杆)在 Z 方向,相对于测量系统:0.04 μm扫描长度开始(X 方向)0.2 mm取样角在平滑表面
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三维表面形貌测量仪InfiniteFocus SL
(Ra):80nmzei小测量粗糙度(Sa):50nm 三维表面形貌测量仪InfiniteFocus SL InfiniteFocus SL三维表面形貌测量仪由奥地利Alicona公司研发并生产
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大范围扫描|三维表面形貌测量仪
技术参数 LED光源:λ= 505 nm, MTBF: 50,000 h 测量时间:5~10秒 测量原理:非接触、共聚焦 X/Y方向,平台移动范围:50mmX50mm,马达驱动,分辨率:0.3
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三维表面形貌测量仪InfiniteFocus G5
自动变焦三维表面测量仪InfiniteFocus G5的主要技术参数:位移范围(X轴、Y轴、Z轴):100mm×100mm×100mm样品表面结构:表面形貌Ra>9nm,Lc=2μm,取决于
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三维表面形貌测量仪InfiniteFocus G4
自动变焦三维表面测量仪InfiniteFocus G4的技术参数:位移范围(X、Y、Z轴):100×100×100mm样品表面结构:表面形貌Ra>10-15nm,Lc=2μmzei大样品高度
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三维表面形貌仪
成为世界上zei先进的光学干涉测量设备,可满足MEMS、金属研究、材料科学、半导体、医用器械等众多领域科研和生产工作中对高精度自动化表面测量的需要。特点: 能够同时测量形貌和粗糙度 能够测量小半
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