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OD 4 25nm镀加硬膜的带通滤光片
±0.5 TECHSPEC OD 4 25nm镀加硬膜的带通滤光片的设计是宽带滤光片和窄带滤光片的中等范围替代品。TECHSPEC OD 4 25nm镀加硬膜的带通滤光片适用于单光子显微镜,或用于防止
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库仑法测厚仪
测量2. 应用领域:汽车摩托车、自行车、航天航海、电子电器、线路板、五金锁具、洁具卫浴、塑胶电镀、标准件、钕-铁-硼、技术监督部门及科研机构。3.技术特性:测量镀种:装饰铬、镍、铜、锌、锡、银、金、镉
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镀加硬膜 OD4 5nm 带通滤光片,紫外、可见光 近红外
OD 4.0 10nm, 25nm 和 50nm 镀加硬膜带通滤光片可供选择可提供各种紫外线、可见光 和 近红外激光具备深截止及高透射率陡峭的透射率和折射斜率另有OD 4.0 10nm, 25nm 和
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硬土根钻
采样深度:2米,根钻钻头直径250px、采样长度375px、独特裁口带盖设计。钻头锯齿独特梯形设计,既可以旋转使用(软土),也可以锤击使用(硬土)。特 点:钻头锯齿独特梯形设计,既可以旋转使用(软
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Si镀Ni薄膜
产品名称:Si镀Ni薄膜 (进口Nickel??Film?(100nm)?coated?Silicon?Wafer)技术参数:Si基片参数:P型B;
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InP上镀InGaAs薄膜
产品名称:InP上镀InGaAs薄膜(进口料Epi:?Lattice?matched?p-type?InGaAs:Zn)常规尺寸:dia 2" ;单抛标准包装:技术参数:1000级超净室100
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Si上镀Ge薄膜
产品名称:Si上镀Ge薄膜(进口?Ge?epi-film?on?N-type?Silicon?Wafer,?0.5?um?thickness?)技术参数:Si基片参数:N型掺P; dia
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六价铬检测仪|六价铬的测定
仪器质量:约 400g检出下限:0.1 mg/L检测范围:(0~10)mg/L仪器尺寸:约 178mm×95mm×45mm; 六价铬检测仪是北京智云达科技有限公司依据国家标准研发用于检测水中
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美泰MCT200涂层测厚仪
检测领域,是材料保护专业必备的仪器。既可用于实验室,也可用于工程现场 主要功能 有十种测头类型可供选择,测头接触部件镀硬铬或为红宝石,经久耐用; 自动识别探头 可以在任何测量位置读取测量
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台式铬离子仪
产品参数1、测量范围:0-1mg/L2、分辨率:0.001mg/L3、重复性:≤2%4、示值误差:±5%FS±1个字5、充电器:AC220V 50Hz 铬离子检测仪是一种测量溶液中铬离子浓度
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