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CrossLab 多厂商仪器服务
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CO2低温液化系统 厂商
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诺泰克浪龙波浪剖面流速仪ADCP
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X荧光光谱仪(XRF)样品膜
宽3.0" (76.2mm) × 长30039; (91.4m) 100 Mylar® 麦拉膜 2.5μm (0.1mil) Roll / 连续卷轴 宽3.0" (76.2mm) × 长
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X39;Pert³ MRD
马尔文帕纳科新一代 X39;Pert³ MRD 高分辨X射线衍射仪其可靠性的增强及性能的改进提高了分析能力,提供一体化解决方案来满足不同需求和应用:• 半导体和单晶晶圆:倒易空间探索、摇摆
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X39;Pert³ MRD XL
马尔文帕纳科新一代 X39;Pert³ MRD XL 高分辨X射线衍射仪其可靠性的增强及性能的改进提高了分析能力,提供一体化解决方案来满足不同需求和应用:半导体和单晶晶圆:倒易空间探索
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机械杂质测定仪
主要技术指标1) 采用方法:GB/T 511-2010《石油和石油产品及添加剂机械杂质测定法》;2) 显 示:4.3寸液晶显示(LCD),分辨率480×272 ;3) 控温
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机械杂质测定仪
:≤85%u 电源电压:220±5% V.ACu 电源频率:50±1% Hzu 消耗功率:800Wu 温控设置:独立温度控制u 仪器重量:30Kg 新型的检测机械杂质的测定仪,高精度恒温装置,黑灰色
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颗粒、杂质扫描分析系统
颗粒大小与形状分析仪 Morphious V1颗粒大小与形状分析仪 Morphious V1Morphious V1 (MP-V1)颗粒与形状分布检测系统是世界领先的实时检测颗粒形态的仪器系统
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颗粒、杂质扫描分析系统
颗粒、杂质扫描分析系统 Morphious C1产品概述 粒子扫描系统 MP-C1(彩色摄影机)是专为塑料聚合物工业开发的,也是满足于原材料供应商对产品质量的要求在不断提高需求。当以工业规模
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