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紫外-近红外显微镜
紫外到近红外成像技术与高端显微镜的完美结合——UVM - 1 ™全光显微镜。 这一独特的系统,允许用户仅用一台显微镜即可在整个宽光谱范围内对样品进行分析
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红外/紫外/X光/电子 冷热台 美国Instec
Instec来自液晶先驱院校美国科罗拉多大学的精密温控装置与液晶检测设备功能特点可编程精密控温。可独立控制,也可从上位机软件控制红外光 / 紫外光 / X光 样品观察也可用于电子显微镜的样品
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紫外近红外光谱仪PS-300
光谱波长:220~1100nm校正波长范围:300~1100nm.波长分辨率:1.5nm探测器类型:CCD 2048像素光栅类型:全部手写和统计,590 g/mm数字转化:16 bit信号噪声
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紫外/可见/近红外石英光纤(200~2400nm)
silica fibers及抗紫外光纤(UV Non-Solarizing (UVNS) optical fiber)等。 1, Optran UV 及 Optran WF 系列石英光纤(Silica
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TR-5000紫外可见近红外透射反射测试系统
测量各类薄膜、玻璃以及镜片等的可见光透射比、紫外线透射比、太阳光透射比、可见光反射比,及材料的光谱透射率/反射率曲线,并对材料的颜色特性进行分析,实现280nm-2500nm极宽的测量范围
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奥谱天成红外(紫外)光镀金(铝)球积分球
测量波长大于1μ的光学特性时,通常使用镀金球,不仅波长需要,而且可以采用水冷方式测量较大的光功率,例如5kw激光,首先在球内设一个散射靶,把激光束散射开,以避免激光损伤球壁,同时采用流水冷却球
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USB2000+(XR1)紫外/近红外光谱仪
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U-4100 双光束紫外/可见/近红外光谱仪
进行无破坏检测。 U-4100紫外区高灵敏度测量系统 系统配置: 分光系统: 光栅-光栅 样品舱: 标准 样品尺寸: zei大200 x 200mm 测定
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ATP7820 超宽波段范围紫外可见红外光谱仪
产品特征 超宽波段范围,最高可达0.2-13.0μm; 5款不同波段范围可选,其他波长范围可选; 高信噪比、高动态范围; TEC深度制冷型探测器,无需添加液氮; 不同的分辨率、灵敏度
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TP720 紫外可见近红外分光光度计
(mm)(外形)830*600*260、(样品室)120*240*200测试样品规格(mm)30~110,厚度≤20重 量(kg)约65TP720紫外可见近红外光谱仪是包括紫外-可见-近红外波段连续
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