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表面视像缺陷检测系统
型号: isra本产品操作简单,使用便捷。 表面视像缺陷检测系统的主要优点:1、技术领先,60MHz高速行扫描CCD技术,每秒可最大扫描14,000次,防止漏验。2、独特的LED
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电池缺陷检测仪
,zei大几何放大倍率可达到48X.优质的优质的影像品质,高对比度,可检测到微小密度/灰度差异,便携式的操作方式更易于用户的行为。 电池缺陷检测仪XG5000所配备的软件功能 一 【测量功能
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PIXARGUS在线表面杂质缺陷检测系统
里程碑式创新的全自动在线检测,专门用于密封件,管材件和线缆 表面杂质缺陷检测在线表面杂质缺陷检测系统里程碑式创新的全自动在线检测,专门用于密封件,管材件和线缆 表面杂质缺陷检测专业汽车产品
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LCD/OLED缺陷自动光学检测系统
。能够像人那样进行“目测”,而且具有高度的可靠性和可重复性 使用影像亮度色度计系统和相关分析软件,可以评估 FPD 的亮度、色彩均匀度和对比度,并识别 FPD 上的缺陷,这种用途已经被广为接受。影像
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德国OCS高速颗粒缺陷扫描仪
对应期望处理量的不同,系统可以检测100微米以上的缺陷比如黑点、色差以及其他用户定义缺陷, 并将缺陷分为10个尺寸级别。 OCS粒子扫描系统PS-400C被广泛用于颗粒(粒子)的光学质量
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Eagle Vision EV糖果类淀粉模具缺陷智能检测系统
产地属性欧洲糖果加工的淀粉模具检测 (SMI)能够保证糖果的生产效率和质量。 EV糖果类淀粉模具缺陷智能检测系统糖果加工的淀粉模具检测 (SMI)能够保证糖果的生产效率和质量。能够降低废品率和
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德国KSI超声波缺陷检测系统i-Wafer
- 扫描速度高达2000mm/s- 新型换能器- 高质画面- 同时使用1只、2只、4只换能器提高效能- 能发现只有几微米的缺陷i-Wafer系列是一款高端仪器,操作人员可选择接收/拒绝标准,手动或
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海创HC-F800混凝土裂缝缺陷综合测试仪
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KLA-Tencor Candela CS10/CS20 表面缺陷检测设备
仪器简介:应用: ◆ 硅片、化合物、半导体及透明材质产品表面缺陷的检查分析。技术参数:KLA-Tencor Candela CS10表面缺陷检测设备是针对半导体行业的表面缺陷的检查分析仪器。该
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密度天平
线电阻式触摸屏• 电气特性 AC适配器输入:100~240VAC 0.6A50~60Hz• CE、CSA/U Land FCC认证 Explorer Pro分析系列密度测定天平在同类中已成为市场
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