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Thermo Scientific QuasOr 电子背散射衍射
Thermo Scientific QuasOr 电子背散射衍射EBSD在扫描电子显微镜下通过对多种材料物理属性有影响的晶体结构表征用以做微区纳米结构分析,特别是当它与微区能谱和波谱配合形成一体化
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布鲁克 电子背散射衍射仪 EBSD eflash FS
几何构型,从而实现无与伦比的性能2 nA 测试所需的最大电流:同轴 TKD 可实现低探头电流测试,且不影响测试速度和数据质量125,000 Pps,超快获取 FSE、BSE 和 STEM 图像
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布鲁克 QUANTAX ED-XS电子背散射衍射仪 EBSD
电子显微镜分析仪QUANTAX ED-XS简单的仪器提供经济实惠的科学可靠且经济实惠的 EBSD适配台式 SEM亮点全 分析能力:涵盖超过 95% 的应用,e-Flash XS 和
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台式显微镜 TM4000II/TM4000PlusII
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TM3030Plus日立高新台式显微镜
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日立高新TM4000/TM4000Plus扫描电镜
项目TM4000PlusTM4000放大倍率×10~×100,000 (底片倍率)×25~×250,000 (显示器倍率)加速电压5 kV、10 kV、15 kV图像信号背散射电子二次电子合成
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JSM-IT800超高分辨热场发射扫描电镜
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日立冷场发射扫描电镜SU8600
提供:日本工业技术综合研究所 上村 佳大 先生高衬度的低加速电压背散射图像3D NAND截面观察;在低加速电压条件下,背散射电子信号能够明显的显示出氧化硅层和氮化硅层的衬度差别。3D NAND截面观察
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日本电子JSM-7800F 热场发射扫描电子显微镜
变,因此可以选择电子的能量,USD检测被过滤器弹回的低能量电子,BED通过检测低角度的背散射电子,能清楚地观察通道衬度。利用LED的照明效果能够获得含有形貌信息的、富有立体感的图像。应用实例低加速电压
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SEM3100扫描电子显微镜
产品参数特性分辨率3 nm/30 kV放大倍率1X ~ 300,000X加速电压1 kV ~ 30 kV图像检测二次电子图像 (SE)背散射电子图像 (BSE)多探测器 (SE+BSE)探针与
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