X射线能谱仪(EDS)
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牛津仪器Azteclive能谱实时元素成像系统
牛津仪器
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布鲁克 , EDS, 能谱仪, SEM, TEM
布鲁克纳米表面
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电镜用能谱仪
中科科仪
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JED-2300/2300F 能谱仪
培科创新
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TEM QUANTAX EDS
BRUKER NANO ANALYTICS
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ORTEC γ能谱仪
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X(γ)射线能谱仪
技术参数:1、系统的能量分辨率:<65%(对239Pu) 2、系统的能量线性:≤±1%(60Kev~2.0Mev) 3、系统稳定性:≤±1%(8h) BH1324B型微机多道X谱仪
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ELEGRE X射线能谱仪
型号: ELEGREELEGRE X射线能量色散谱仪(EDS)是北京意力博通技术发展有限公司开发的通用型产品,可以配接多种型号的Si(Li)探测器,适用于SEM和TEM快速元素识别及
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便携式能谱仪
10000个数据谱,具有计算机连线及配套数据通讯软件信息显示:320×240高亮,32000种色彩,3.5″液晶显示屏RIIDEye型便携式能谱仪,具有核素识别、能谱分析、剂量测量、剂量率计算、总剂量
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IXRF X射线能谱仪
能谱探测器技术指标: IXRF电制冷能谱仪提供多种规格的探头和性能可靠的脉冲处理器,软件功能强大完备,免费升级。 IXRF电制冷探测器与具有创新性的、基于以太网的数字脉冲处理器
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日本电子JED-2300/2300F 能谱仪电镜用能谱仪
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八路alpha能谱仪
技术参数:真空计:范围10mTorr到20Torr数字化MCA: 4096道增益稳定性: ≤150ppm/ºC脉冲产生器;范围0到10Mev,稳定性
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SystemSix X-射线能谱仪
详细参数...... SYSTEM SIX 系统对所有能谱仪分析功能均在一个工作界面下完成,所有任务仅靠鼠标一点自动完成。实现能谱仪分析工作的智能化。 SYSTEM SIX
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ORTEC高纯锗γ能谱仪
,由计算机选择非线性积分非线性:≤±0.025%微分非线性:≤±1%数字化稳谱器由计算机控制并稳定增益和零点温度系数增益:
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OXFORD Ultim Extreme EDS 能谱仪
Ultimate spatial resolution for SEM-EDSSub 10nm element characterisation in the FEG-SEMSurface
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