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COSMOS-2X荧光X射线膜厚仪
【简单介绍】品牌其他品牌价格区间面议产地类别进口应用领域综合荧光X射线膜厚仪COSMOS-2X可测试项目:单层膜厚、双层膜厚、三层膜厚、化学镍膜厚、铅合金膜厚及组成、压铸锌上镀铜、 二层同时
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X射线荧光膜厚仪XTU-40
,移动精度可达5um,轻松应对极微小样品检测 先进的解谱技术:减少能量相近元素的干扰,降低检出限 微聚焦加强型X射线装置:可测试各类极微小的样品,即使检测面积为0.003mm²的样品也可轻松、精准检测
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EX-3000日本荧光X射线膜厚仪
【简单介绍】品牌其他品牌价格区间面议产地类别进口应用领域综合产品名称:日本荧光X射线膜厚仪 EX-3000可测试项目:单层膜厚、双层膜厚、三层膜厚、化学镍膜厚、铅合金膜厚及组成、压铸锌上镀铜
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理学X射线荧光测硫仪-micro Z Sulfur
0.3ppm的检测下限,测氯0.22ppm的检测下限。2. 六位样品自动进样系统提高仪器使用效率,节省人员工时成本。3. X光源照射面积大,分析均匀稳定4.扣背景机构 油料中各元素间的谱线
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测厚计 高精度橡胶测厚计
测厚计主要适用于测量橡胶、塑料等试样的厚度及均匀度。 测厚计技术参数:测程:0-10mm分度值:0.01mm工作台升降最大行程:40mm工作台外径: 70mm测头直径:6mm块规规格(厚度
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测厚计 高精度橡胶测厚计
量范围:0-10mm;分度值:0.01mm上测足直径:6±0.05mm 施加压力: 22±5Kpa所需质量:63±7g 上测足直径:6±0.05mm 施加压力: 22±5Kpa 量范围
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日立 FT150系列 荧光X射线镀层膜厚测量仪
参数:基本参数:型号:FT150(标准型)FT150h(高能量型)FT150L(大型线路板对应)测量元素:原子序数13(Al)~92(U) X射线源:管电压:45 kV
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X射线测硫仪
17040-2008《石油产品硫含量测定法(能量色散X射线荧光光谱法)》和GB/T 11140-1989《石油产品硫含量测定法(X射线光谱法)》的相关要求,同时完全符合美国国家标准
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S-450便携式X射线荧光测定仪
S450手持式X荧光土壤成分分析仪探测器高性能硅漂移SDD 探测组件激发源45KV/200uA-银靶端窗一体化微型X射线光管及高压源元素检测范围原子序数为12~92 镁(Mg)到铀(U)之间
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佳谱A450手持式合金分析仪
,打造专属个性化分析系统。技术参数及规格A450手持式X荧光合金成分分析仪探测器高性能硅漂移SDD 探测组件激发源45KV/200uA-银靶端窗一体化微型X射线光管及高压源元素检测范围原子序数为12
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