-
MAXXI 6 X射线荧光镀层测厚仪
获得准确的数据。 基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供易于使用、快速和无损的分析,几乎不需要样本制备,能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。微束
-
天瑞Thick 600 X荧光镀层测厚仪
-
禾苗heleex E3-Px射线荧光测厚仪
仪器规格:● 外形尺寸:360 mm x 600mm x 385 mm (长x宽x高)● 样品仓尺寸:360mm×400mm x160(长x宽x高,高度可定制)● 仪器重量:50kg● 供电电源
-
菲希尔XDL系列X射线荧光镀层测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列是应用广泛的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。它是由大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B型仪器上发展而来的。与上一代
-
菲希尔XDLM系列 X射线荧光镀层测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是应用广泛的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。这款仪器专门是为测量超薄镀层和微含量而设计,是用于质量控制,质量检验和生产监控的zei合适的
-
菲希尔XULM系列 X射线荧光镀层测厚仪
-
X荧光光谱镀层测厚仪XU-100
产品参数: XU-100高性价比型膜厚仪全新下照式设计、性价比高、适用性强,轻松快速解决各种平面件、异形件及电镀液的检测,且能自动判定测试结果。 产品简介
-
X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪
获得准确的数据。 基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供易于使用、快速和无损的分析,几乎不需要样本制备,能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。微束
-
天瑞Thick800A X荧光镀层测厚仪
技术指标型号:Thick 800A元素分析范围从硫(S)到铀(U)。同时可以分析30种以上元素,五层镀层。分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)任意多个
-
THICK680测厚仪(X荧光光谱仪)
X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管,Be窗标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等X射线管:管电压50KV,管电流1mA可测元素:Ti~U检测器:正比计数管样品
-
1.
沃特世国产液质联用系统首发,持续加码本土化布局
-
2.
安捷伦推出新型光谱流式细胞仪NovoCyte Opteon
-
3.
总投资539.82亿元 贵州发布第一批大规模设备更新清单
-
4.
浙大328亿排第二!全国高校2024年度预算经费出炉,24所高校破百亿
-
5.
42个领域 北京2024年首批设备购置与更新改造贷款贴息项目开始申报
-
6.
拉曼光谱仪2024Q1市场分析| 科研之光VS监管之盾的双重选择
-
7.
8分委 187人 国家药监局成立化妆品标准化技术委员会
-
8.
京津冀协同发展丨东丽经开区强链补链引人才,盘活资产启新程
-
9.
2024年第一季度食品安全监督抽检结果公布 农药残留超标占比近一半
-
10.
中国第一,全球第五!丹东百特上榜“世界工业新闻”年度报告
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net