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菲希尔XDL系列X射线荧光镀层测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列是应用广泛的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。它是由大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B型仪器上发展而来的。与上一代
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菲希尔XDLM系列 X射线荧光镀层测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是应用广泛的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。这款仪器专门是为测量超薄镀层和微含量而设计,是用于质量控制,质量检验和生产监控的zei合适
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菲希尔XULM系列 X射线荧光镀层测厚仪
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菲希尔XDV-SDD X射线荧光镀层测厚仪
界面友好的WinFTM®软件在电脑上完成。 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪,配有可编程运行的 X/Y 轴工作台和 Z 轴升降台,用于自动测量超薄镀层厚度或进行痕量分析。 FISCHERSCOPE
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菲希尔XDV-u X射线荧光镀层测厚仪
X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪,独有多毛细孔X 射线光学系统设计,可自动测量和分析微小部件及结构上镀层厚度和成分。FISCHERSCOPE®-X-RAY XDV-μ®是一款应用广泛的能量色散
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菲希尔XUL220型X射线荧光镀层测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XUL220是一款性能卓越、设计紧凑、应用广泛的X射线荧光镀层及材料分析仪。常用于无损测量细小工件上的镀层厚度和材料分析。特别适合在质量管控、来料检验及
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菲希尔XDLM-PCB系列 X射线荧光镀层测厚仪
微聚焦X射线管配合比例接收器能够产生高计数率信号,以此造就了高精度的测量。出色的准确性及长期的稳定性是FISCHER X射线仪器的共有特点,因此也大大减少了重新校准仪器的需要,为您节省时间和
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菲希尔XAN500型便携式X射线荧光镀层测厚仪
X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它特别适用于测量和分析超薄镀层以及进行材料分析。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY仪器一样,本款仪器有着出色的精确性以及长期的稳定性,这样就显著
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COSMOS-2X荧光X射线膜厚仪
【简单介绍】品牌其他品牌价格区间面议产地类别进口应用领域综合荧光X射线膜厚仪COSMOS-2X可测试项目:单层膜厚、双层膜厚、三层膜厚、化学镍膜厚、铅合金膜厚及组成、压铸锌上镀铜、 二层同时
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菲希尔荧光光谱仪
菲希尔 X-RAY XAN® 150荧光光谱仪一般技g 使用的 能量散咽降 x-射光Vx用於y量十分薄的膜雍穸龋诤辖鹬y量不同元素的含量。 元素的 X Al (13) 至 U (92
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