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菲希尔荧光光谱仪
菲希尔 X-RAY XAN® 150荧光光谱仪一般技g 使用的 能量散咽降 x-射光Vx用於y量十分薄的膜雍穸龋诤辖鹬y量不同元素的含量。 元素的 X Al (13) 至 U (92
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菲希尔光谱仪
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菲希尔XDL系列X射线荧光镀层测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列是应用广泛的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。它是由大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B型仪器上发展而来的。与上一代
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菲希尔XDLM系列 X射线荧光镀层测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是应用广泛的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。这款仪器专门是为测量超薄镀层和微含量而设计,是用于质量控制,质量检验和生产监控的zei合适的
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菲希尔XULM系列 X射线荧光镀层测厚仪
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菲希尔XDV-SDD X射线荧光镀层测厚仪
界面友好的WinFTM®软件在电脑上完成。 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪,配有可编程运行的 X/Y 轴工作台和 Z 轴升降台,用于自动测量超薄镀层厚度或进行痕量分析。 FISCHERSCOPE
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菲希尔XDV-u X射线荧光镀层测厚仪
X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪,独有多毛细孔X 射线光学系统设计,可自动测量和分析微小部件及结构上镀层厚度和成分。FISCHERSCOPE®-X-RAY XDV-μ®是一款应用广泛的能量色散
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菲希尔XUL220型X射线荧光镀层测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XUL220是一款性能卓越、设计紧凑、应用广泛的X射线荧光镀层及材料分析仪。常用于无损测量细小工件上的镀层厚度和材料分析。特别适合在质量管控、来料检验及
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菲希尔XDLM-PCB系列 X射线荧光镀层测厚仪
微聚焦X射线管配合比例接收器能够产生高计数率信号,以此造就了高精度的测量。出色的准确性及长期的稳定性是FISCHER X射线仪器的共有特点,因此也大大减少了重新校准仪器的需要,为您节省时间和精力
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菲希尔MMS PC2
应用:钢材上的镀锌层和油漆涂层;铝材上的阳极氧化涂层 (PERMASCOPE®)纳米涂层(防指纹)、太阳能电池涂层(薄膜层、CdTe/玻璃底材)、插头触点上的镀金层、焊盘上焊料中的铅、痕量分析
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