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蔡司X射线显微镜Xradia CrystalCT
多晶体材料(如金属、增材制造、陶瓷等)的方式,从而为您的材料研究带来更新、更深的洞见。 [产品简介]蔡司X射线显微镜 Xradia CrystalCT,是搭建在微米CT上的商业化实验室衍射衬度
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蔡司X射线显微镜 Xradia 410 Versa
成像应用。[ 产品详情 ]蔡司X射线显微镜 Xradia 410 Versa,可提供无损3D成像,采用光学加几何放大的成像架构,可实现大样品高分辨率成像。可提供高衬度和可调节的增强相位衬度成像模式。为
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蔡司X射线显微镜Xradia 810 Ultra
材料成像提供更出色的反差和图像质量。[ 产品详情 ]蔡司X射线显微镜Xradia 810 Ultra,提升了纳米级三维 X 射线显微镜的成像性能。这款创新的 X 射线显微镜能在 5.4 keV 的低能
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蔡司X射线显微镜 Xradia 800 Ultra
等现有高分辨率成像技术与光学显微镜技术或传统 microCT 技术之间的空白。 [ 产品详情 ]蔡司X射线显微镜 Xradia 800 Ultra将高通量实验室 X 射线源与专业的X 射线
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蔡司Xradia 515 Versa三维X射线显微镜
。 [产品简介]蔡司X射线显微镜 Xradia 515 Versa,凭借其突破性技术和高分辨率探测器,将 3D X 射线显微镜 ( XRM ) 的性能提升至新的高度,为各种尺寸的样品提供亚微米级成像
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X射线显微镜
成像X射线显微镜参数:10-50KVp X射线源3微米分辨率样品尺寸科大 60x60x60mm无限的有效视场瞬时视场(FOV)高达10mm(取决于物镜)X射线单元重量:
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ZEISS Xradia 610 和620 Versa 3D X射线显微镜
蔡司Xradia 610 & 620 Versa 3D X射线显微镜在科研和工业研究领域为您开启多样化应用的新高度。基于高分辨率和衬度成像技术,Xradia 610 & 620 Versa
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ZEISS Xradia 520 Versa X射线显微镜
有意义的方法X射线源类型:密封透射管电压范围:30 - 160 kVzei大输出:10 W辐射安全度 (外壳表面以上25 mm处测量): < 1µS/hr探测系统蔡司 X 射线显微镜拥有创新探测器转台
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LAMBDA 750K探测器
性能参数:LAMBDA 750K作为标准版本的LAMBDA探测器提供了人性化的设计以及优越的性能。 每一系列LAMBDA探测器都提供不同X射线能量探测范围的感光材料。对于硬X射线的探测
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LAMBDA 350K 探测器
性能参数:LAMBDA 350K采用GaAs材料或者CdTe材料的,该版本将搭配在2x3 Medipix3芯片上。 每一系列LAMBDA探测器都提供不同X射线能量探测范围的感光材料。对于硬X
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