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薄膜测厚仪
薄膜测厚仪产品特点:通用表座采用空气阴尼装置,测量稳定可靠集光、机、电、算于一体,体积小,使用方便备有精密可调的多功能测量工作台选购备有RS232通讯接口可与计算机进行通讯采用计量光栅作长度长
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薄膜测厚仪
产品简介:高精度薄膜测厚仪采用机械接触式测量方式,专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。主要参数: 专业名称:测厚仪 测量范围:0
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薄膜测厚仪
薄膜测厚仪仪器简介:提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图
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高端薄膜测厚仪
高端测厚仪_测厚仪_薄膜测厚仪功能用途GH-D型数字测厚仪是一种集光、机、电、算为一体的高精度数字测厚仪,操作方便。测量结果为数字显示。并且可以连接计算机进行自动控制。主要用于对塑料薄膜,纸张
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MProbe Vis薄膜测厚仪
性能参数:技术参数: 大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被MProbe Vis测厚仪测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体化合物
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MProbe RT薄膜测厚仪
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS
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MProbe UVVisSR薄膜测厚仪
测量范围: 1 nm -50um 波长范围: 200 nm -1000 nmMProbe UVVisSR薄膜测厚仪适用于实时在线测量,多层测量,非均匀涂层, 软件包含大量材料库(超过500材料
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MProbe NIR薄膜测厚仪
和材料,多样品测量,动态测量和产线批量处理。采用近红外光谱(NIR)的测厚仪可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域,比如在可见光范围内有吸收的太阳能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的测量
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MProbe系列薄膜测厚仪
,液晶平板,触摸屛,光学镀膜,聚合物薄膜等 当一束光入射到薄膜表面时,薄膜上表面和下表面的反射光会发生干涉,干涉的发生与薄膜厚度及光学常数等有关,反射光谱薄膜测厚仪就是基于此原理来测量薄膜厚度
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薄膜箔片片材测厚仪
赛成 CHY-CA01高精度薄膜、片材测厚仪 技术指标测试范围: 0~2 mm(常规)0~6 mm;12 mm(可选)分辨率 :0.1 μm测量速度 :10 次/min (可调)测试压力
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