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表面视像缺陷检测系统
型号: isra本产品操作简单,使用便捷。 表面视像缺陷检测系统的主要优点:1、技术领先,60MHz高速行扫描CCD技术,每秒可最大扫描14,000次,防止漏验。2、独特的LED
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PIXARGUS在线表面杂质缺陷检测系统
里程碑式创新的全自动在线检测,专门用于密封件,管材件和线缆 表面杂质缺陷检测在线表面杂质缺陷检测系统里程碑式创新的全自动在线检测,专门用于密封件,管材件和线缆 表面杂质缺陷检测专业汽车产品
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KLA-Tencor Candela CS10/CS20 表面缺陷检测设备
仪器简介:应用: ◆ 硅片、化合物、半导体及透明材质产品表面缺陷的检查分析。技术参数:KLA-Tencor Candela CS10表面缺陷检测设备是针对半导体行业的表面缺陷的检查分析仪器。该
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电池缺陷检测仪
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LCD/OLED缺陷自动光学检测系统
。能够像人那样进行“目测”,而且具有高度的可靠性和可重复性 使用影像亮度色度计系统和相关分析软件,可以评估 FPD 的亮度、色彩均匀度和对比度,并识别 FPD 上的缺陷,这种用途已经被广为接受。影像
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德国OCS高速颗粒缺陷扫描仪
对应期望处理量的不同,系统可以检测100微米以上的缺陷比如黑点、色差以及其他用户定义缺陷, 并将缺陷分为10个尺寸级别。 OCS粒子扫描系统PS-400C被广泛用于颗粒(粒子)的光学质量
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Vutara350超高分辨率显微镜
总览:3D高速成像,超高分辨率成像,单分子定位成像侧向分辨率:20 nm*轴向分辨率:40 nm到70 nm*图像采集速度:zei高3000帧/秒探测器:sCMOS相机(400万像素,像素大小6.5
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Bruker场扫描共聚焦成像系统Opterra II
样本数:1视野范围:根据物镜倍数扫描速度:100fps扫描分辨率:最大2048*2048能量分辨率:不适用应用领域:小动物Opterra II SpecificationsThe Most
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Inspire红外原子力显微镜
技术参数 光路系统 集成红外散射SNOM系统: 包含必需的光学器件, 激光和检测器; 高质量的宽频光学元件; 低噪音, 液氮冷却的探测器
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布鲁克3D光学轮廓仪
3D光学轮廓仪突破了一般的表征技术,为您提供 逼真成像与可信测量数据的结合 --为研发决定提供定量、重复可靠的表面数据 --所有三维光镜能提供的最佳横向、纵向分辨率的结合 简易直观的操作界面
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