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帕纳科台式 XRF 超轻元素版 E3XLE
是一种台式能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 光谱仪,用于在从研发到流程控制的领域中进行元素分析。它易于操作、可靠且高度灵活,是多种行业和应用的理想选择。激发和探测技术的zei新进步为该仪器提供了
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帕纳科台式 XRF 超轻元素版 E3XLE
Epsilon 3 XLE 仪器将zei新的激发和探测技术与顶尖的分析软件结合到了一起。15 瓦 X 射线管与大电流 (3 mA)、zei新的硅漂移探测器以及紧凑的光路设计相结合,提供了甚至超过 50
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Xenemetrix 二次靶 轻元素检测仪EX-3600 SDD
技术参数: 测量范围:Na (11)~U (92) 元素含量分析范围:1ppm~100% X-光管:Rh-阳极标准 X-射线电压
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DM2400单色激发能量色散XRF微量轻元素光谱仪
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安科慧生 轻元素分析仪MERAK-LEII(Si.P.S.Cl)
(H) 功率(110±10)VAC, 5A;(220±20)VAC, 5A 控制 电脑控制,Windows操作系统 温度范围 10℃ ~35℃ MERAK-LEII是应对石化产品中同时分析轻元素(硅
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轻元素检测仪Xenemetrix 二次靶 水泥、玻璃检测 EX-6600 SDD
技术参数: 测量范围:Na (11)~U (92) 元素含量分析范围:1ppm~100% X-光管:Rh-阳极标准 X-射线电压
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超轻元素微区X射线荧光成像光谱仪 M4 TORNADO PLUS
行业专用类型: 地质岩矿重复性:0.1%能量分辨率: 小于140eV分析含量范围:1ppm-99.99%元素分析范围:Na~U 参考招标参数中国科学院海洋研究所2023改善科研条件专项-深海
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天瑞仪器Genius 5000XRF轻元素增强型手持式合金分析仪
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安科慧生单波长X射线荧光光谱仪(ME XRF) MERAK-SC(F-Zn
操作界面,支持各类样品的应用开发;• 元素分析范围轻元素:F-Cl金属元素:K-Zn(其它元素分析,可配置)• 元素检出限元素FNa\MgAl\SiP\S\ClK-Zn检出限
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日本理学波长色散X射线荧光光谱仪-快速定量元素分析的高性能
特殊轻元素(低原子序数)检出限。结合了最先进的Mapping分析包来检测均质性和夹杂物,ZSX Primus简单地提供了其他分析方法无法提供的详细样品分析。可用多点分析帮助消除非均质材料的抽样误差
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