-
热电薄膜材料输运性质测量装置
装置概述主要研究对象:目前材料、物理和化学研究的热点之一的二维薄膜材料体系。主要功能:是用来测量热电薄膜的热电性质,包括电导和Seebeck系数。2组成部分:主要由探针台和控制系统两部分组成。其中探针
-
SDI金属污染及少数载流子寿命检测仪
技术参数:可以非接触式地测量硅片内部的少数载流子寿命与扩散长。同时可以定量与定性的量测沉降到硅与二氧化硅内部的铁,铜,钠等游离的金属污染。最高金属污染浓度分辨率可以达到1E8的级别。SDI少数载流子
-
综合物性测量系统
由一个主机和各种测量和拓展选件构成。主机提供了一个强磁场(超导磁体)和极低温的实验环境(液氦温区),用户可以根据自己的研究需要选择购买测量电学、磁学、比热、热电输运等性质的选件,系统的可扩展性甚至允许
-
MMR变温变磁场霍尔效应测试仪器
设备明细:3-1测试范围:Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN (N Type & P Type)等材质的半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率
-
CIMPS 可控强度调制光电化学谱仪/光电化学测试系统
-
瞬渺信号采集与处理WCT-120PL
WCT-120PL产品分别采用标准QSSPC方法和光致发光法测量硅片的载流子寿命。 瞬态光电导衰减法(PCD)和荧光方法两种互为补充。操作和使用起来和WCT120一样方便。 wct-120pl
-
光泵浦太赫兹探测系统
中心波长~800nm 产品简介 光泵浦太赫兹探测 (OPTP) 技术是一门非常有应用前景的超快载流子研究方法。THz 有光子能量低的特性,它对半导体中载流子的变化和分布将会十分敏感
-
MC镁瑞臣 瞬态表面光电压测试系统 MC-TPV355
高效率提供指导。 太阳能光催化使用的一般都是半导体光催化剂,其光催化的基本过程一般分为以下几个过程:电子空穴的产生、捕获、复合、迁移及反应。光催化剂中光生载流子的动力学过程往往进行得非常快
-
das·nano太赫兹时域光谱仪ONYX
工业化水平。与其他大面积测试方法(例如四探针方法)相比,Onyx能够测量样品质量的空间分布。与显微方法(例如拉曼,SEM和TEM)不同,可以数百微米的空间分辨率快速表征大面积的样品。移动性和载流子密度
-
极低温mK级纳米精度位移台
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net