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热电薄膜材料输运性质测量装置
装置概述主要研究对象:目前材料、物理和化学研究的热点之一的二维薄膜材料体系。主要功能:是用来测量热电薄膜的热电性质,包括电导和Seebeck系数。2组成部分:主要由探针台和控制系统两部分组成。其中探针
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综合物性测量系统
由一个主机和各种测量和拓展选件构成。主机提供了一个强磁场(超导磁体)和极低温的实验环境(液氦温区),用户可以根据自己的研究需要选择购买测量电学、磁学、比热、热电输运等性质的选件,系统的可扩展性甚至允许
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CIMPS 可控强度调制光电化学谱仪/光电化学测试系统
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极低温mK级纳米精度位移台
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恒平FB124自动内校万分之一电子分析天平
)±0.2±0.2±2±2±2秤盘尺寸(mm)Φ90 风罩尺寸190*155*235(mm) 外形尺寸200*440*290(mm) 人性化的大提手设计更是方便搬动或输运天平。上海子期实验设备
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低温比热测试系统
、控温仪、高精度测温仪、CVM-200电输运性质测试仪、智能时间继电器等组成。实验时使恒温器真空套下半部分浸入液氮中。 仪器简介:低温比热测试系统是基于比热定义的zei基本方法:稳态绝热
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美国ARRADIANCE台式原子层沉积系统
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高通路稀释制冷机400HA
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X-2 XRD闭循环低温恒温器
• Huber 512 and 5020 水平测角仪• 机械化的低温恒温器输运载体 (DMX-2D)• Bruker D8, D500, D5000 衍射仪(DMX-2C)• Agfa
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顶部取样插杆式稀释制冷机KelvinoxTLM
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