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扫描电迁移率粒径谱仪
时间: 4 秒 GRIMM SMPS+C系统采用传统的差分电迁移率粒径分级器(DMA)和凝聚核粒子计数器(CPC)技术结合
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大分子迁移率测定仪
分子尺寸范围:0.3 – 1000nm; 迁移率:无实际限制; 高功率DPSS激光光源(50mW),确保超高灵敏度;zei大程度降低电极电压(10000h); 多检测
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SMPS+C 扫描电迁移率粒径谱仪
0 ~ 10 V,由CPC或DMA控制器提供高压安全保障打开DMA自动切断高压内部传感器温度、压力及两个热限流孔压差传感器 SMPS+C扫描电迁移率粒径谱仪(Scanning Mobility
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SMPS+E 扫描电迁移率粒径谱仪
3个可选气象或气体传感器,即插即用电源230VAC 50 ~ 60Hz;或120V 50 ~ 60Hz大小31×25.5×22cm(H×W×D)重量12.2kg SMPS+E扫描电迁移率粒径谱仪
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美国TSI 扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS-3938)
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U-SMPS 2050 X / 2100 X /2200 X 通用扫描迁移率粒度仪
集成X射线电离功能的通用扫描迁移率粒度仪 适用于8 ‒ 1200 nm的各种应用集成X射线电离功能的通用扫描迁移率粒度仪适用于8 ‒ 1200 nm的各种应用 图1:U-SMPS 2050X
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美国TSI 扫描电迁移率颗粒物粒径谱仪(SMPS-3936)
仪器简介:3936-SMPS (Scanning Mobility Particle Sizers) 是一种用来测量粒径在3~1000nm范围内的超细气溶胶颗粒的高科技产品。它采用一种
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德国Grimm EDM665 WRAS气溶胶粒径谱仪
扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS+C)结合起来分析颗粒物粒径的设备,光学粒径谱(OPC)主要用于微米级的颗粒的监测,OPC将监测31个通道,扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS+C)用于纳米颗粒研究,扫描电
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Bi2Se2Te晶体
产品名称:Bi2Se2Te晶体产品简介:常规热电材料,是当前热电因子最大的纯相块体,机械解离可以获得优质的拓扑绝缘体材料.绝缘性好,电阻率高,迁移率好。产品参数:晶向:Hexagonal
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ZetaCompact®视频追踪式Zeta电位测定仪
沉积在测量室底部。ZetaCompact®采取具有角度寻径分辨率的高精度图像分析方案,在垂直平面内测量悬浊液中颗粒的电泳迁移率分布。测量参数:电泳迁移率分布zeta电位pH值电导率温度测量池定位密度高
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