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近场测量系统Imaging Sphere
快速多视角 Imaging Sphere:对光源、显示器和散射材料的完整角度性能信息进行经济高效而又快速的单次采集测量我们的 Imaging Spheres 产品基于新颖的光学结构,可一次性从
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近场光学显微镜
等。 SNOM刻蚀:矢量式,光栅式。 NTEGRA Spectra 在检测样品时,通过扫描近场光学显微术能提供超越激光光学衍射的光学分辨率。
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近场光学显微镜
仪器简介:以Zeiss显微镜为基础,近场激发光路为正置共焦显微镜加特殊设计的近场物镜头,采用悬臂梁近场光学针尖,近场光激发强度高于光纤针尖2-3个数量级,很大程度改善了近场光学显微镜
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TeraSpike 太赫兹近场探针
的需求,我们对近场探针进行了彻底的重新设计并且开发成功。新的探针是一款多用途表面近场电场探测器,适用于太赫兹波长范围内,具有前所未有的性能,可靠并且可适应。它可以完美地集成到太赫兹时域系统,在860
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太赫兹近场探针 THz probe
砷化镓光电导近场探针系列是新一代的高性能光电导型微探针,利用此探针,样品表面的近场太赫兹电场可被以被空前的分辨率测量,信号质量好,噪声低。这些太赫兹探针可以无缝的与激发波长低于860nm的系统配合使用
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太赫兹近场扫描成像系统
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WITec扫描近场光学显微镜SNOM
技术参数: ◆工作模式:近场显微镜,共聚焦显微镜,原子力显微镜三种工作模式 ◆近场光学显微镜分辨率:为50nm ◆共聚焦拉曼显微镜分辨率:200nm
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美国ANASYS纳米级近场红外光谱
仪器简介 ANASYS公司长期致力于纳米热学分析领域,开发出了多种新颖的、易操作的研究和分析仪器。基于多年累积的纳米热学zl技术,ANASYS又推出了一款zei新的测试技术仪器——Nano-IR
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近场光学显微镜alpha300 RS
alpha300 RS – 原位关联的拉曼和扫描近场光学图像 对于拥有挑战性实验要求的用户来说,alpha300 RS将共聚焦拉曼图像及突破光学衍射极限的扫描近场光学显微镜结合
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Nanonics近场光学扫描显微镜(NSOM/SNOM)
技术参数:原子力扫描表征 -接触模式(可选) -探针或者样品扫描都具有所有原子力显微镜的操作模式。近场光学成像和激发表征 -透射,反射,收集,激发模式界面差别对比表征
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