透射电子显微镜(透射电镜、TEM)
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赛默飞世尔Spectra S/TEM透射电子显微镜
赛默飞
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赛默飞Meridian EX Semiconductor半导体故障隔离系统
赛默飞(原FEI)
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国产场发射透射电子显微镜 TH-F120
国仪量子
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牛津仪器AZtecTEM软件
牛津仪器
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TESCAN 4D-STEM TENSOR
泰思肯
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CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) 场发射冷冻透射电子显微镜
文明机电
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JEM-ARM200F NEOARM 原子分辨分析型球差校正透射电镜
日本电子
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赛默飞(原FEI)Talos F200C TEM透射电镜
欧波同
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CAMECA 三维原子探针 Leap 5000
CAMECA SAS
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新一代低电压透射电子显微镜-LVEM 25E
Quantum Design中国子公司
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透射电镜(TEM)
服务详情透射电镜方法是利用透射电镜对样品的结构和性能进行研究的方法。透射电镜的工作原理与光学透射显微镜相同,只是用电子束替代了光束,用磁聚焦的电子透镜替代了玻璃透镜,而电子成像显示于荧光屏上
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Titan Themis TEM透射电镜
技术亮点 :· 可选超稳定、高亮度肖特基场发射电子枪(X-FEG,更多详情请参见单独的产品数据表)· 全新三透镜聚光器系统可量化指示照明区域会聚角和大小,从而量化衡量电子剂量和照明条件· 灵活的
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PicoFemto透射电镜多孔样品杆
PicoFemto透射电镜多孔样品杆,多孔样品杆使研究者们可以将最多三个样品同时置入透射电镜中,大大提高了透射电镜的使用效率。PicoFemto透射电镜多孔样品杆,多孔样品杆使研究者们可以将最多三个
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日立透射电镜HT7820
(手动/自动)、Low dose、API(自动预辐照功能)、 镜筒柔性烘烤、全视野图像导航(Whole View)、 自动漂移校正 日立最新推出120kV透射电镜HT782机型,该机型继承了标准版
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PicoFemto透射电镜原位拉伸样品杆
PicoFemto透射电镜原位拉伸样品杆,可在室温条件下对材料施加拉力,结合透射电镜原位观察材料结构的变化。PicoFemto透射电镜原位拉伸样品杆,可在室温条件下对材料施加拉力,结合透射电镜原位
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PicoFemto透射电镜TEM冷冻样品杆
PicoFemto透射电镜TEM冷冻样品杆,TEM冷冻样品杆可以使被观测样品处于液氮低温下,减弱了电子束辐照对样品的损伤,同时也能研究材料的低温结构。PicoFemto透射电镜TEM冷冻样品杆
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冷场发射球差校正透射电镜
传统的冷场发射技术稳定性差,亮度低,无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社zei新开发的冷场发射技术解决了这些问题,并把该技术加入到zei新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使
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透射电镜臭氧清洗设备ZONETEM II
为1min-30min(步幅1min)真空系统:无油真空系统(干泵3.8L/min)3min内达到所需真空度真空范围为100-500torr(100步) 样品杆:3孔或5孔可选适合于各型号透射电镜样品
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Metrios TEM透射电镜半导体工业
第一个致力于半导体工业的 TEM;致力于提供快速, 精确的测量;基本的 TEM 操作和测量程序的广泛的自动化zei大限度地减少对专业操作员训练的要求。其先进的自动化计量例程提供了比手动方法更高的精确度
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PicoFemto透射电镜原位高温力学测量系统
PicoFemto透射电镜原位高温力学测量系统,同时集成了力学测量模块及MEMS芯片模块,可以在对样品1000 ℃加热的同时进行定量的力学测量。PicoFemto透射电镜原位高温力学测量系统,同时
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最新!国家室间质评部分项目评价方法大调整
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