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透射电镜(TEM)
服务详情透射电镜方法是利用透射电镜对样品的结构和性能进行研究的方法。透射电镜的工作原理与光学透射显微镜相同,只是用电子束替代了光束,用磁聚焦的电子透镜替代了玻璃透镜,而电子成像显示于荧光屏上
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Titan Themis TEM透射电镜
物台提供的线性漂移补偿功能可用于减轻热漂移造成的限制,因为在原位加热或冷却实验中热漂移不可避免。· 分析用双倾斜样品架具有 ±40 度的倾斜范围,支持观测多晶材料中某个晶体的多个晶带轴。倾斜范围高达
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PicoFemto透射电镜多孔样品杆
PicoFemto透射电镜多孔样品杆,多孔样品杆使研究者们可以将最多三个样品同时置入透射电镜中,大大提高了透射电镜的使用效率。PicoFemto透射电镜多孔样品杆,多孔样品杆使研究者们可以将最多三个
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日立透射电镜HT7820
(手动/自动)、Low dose、API(自动预辐照功能)、 镜筒柔性烘烤、全视野图像导航(Whole View)、 自动漂移校正 日立最新推出120kV透射电镜HT782机型,该机型继承了标准版
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PicoFemto透射电镜原位拉伸样品杆
PicoFemto透射电镜原位拉伸样品杆,可在室温条件下对材料施加拉力,结合透射电镜原位观察材料结构的变化。PicoFemto透射电镜原位拉伸样品杆,可在室温条件下对材料施加拉力,结合透射电镜原位
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PicoFemto透射电镜TEM冷冻样品杆
PicoFemto透射电镜TEM冷冻样品杆,TEM冷冻样品杆可以使被观测样品处于液氮低温下,减弱了电子束辐照对样品的损伤,同时也能研究材料的低温结构。PicoFemto透射电镜TEM冷冻样品杆
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冷场发射球差校正透射电镜
传统的冷场发射技术稳定性差,亮度低,无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社zei新开发的冷场发射技术解决了这些问题,并把该技术加入到zei新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使
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透射电镜臭氧清洗设备ZONETEM II
为1min-30min(步幅1min)真空系统:无油真空系统(干泵3.8L/min)3min内达到所需真空度真空范围为100-500torr(100步) 样品杆:3孔或5孔可选适合于各型号透射电镜样品
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Metrios TEM透射电镜半导体工业
透射电子显微镜 高容量的 TEM 数据, 准确和可重复-每样成本zei低先进的逻辑和内存制造过程越来越依赖于精确的结构和分析数据的快速周转, 以便能够快速校准工具集, 诊断出产量漂移, 并优化
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PicoFemto透射电镜原位高温力学测量系统
PicoFemto透射电镜原位高温力学测量系统,同时集成了力学测量模块及MEMS芯片模块,可以在对样品1000 ℃加热的同时进行定量的力学测量。PicoFemto透射电镜原位高温力学测量系统,同时
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