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PLS2-SYSTEMTK正电子湮没寿命谱仪ORTEC
系统集成测试报告参数:系统时间分辨率(用50μCi 60Co源测量):保证值:≤ 200ps;典型值:≤ 180ps1930年Dirac从理论上预言了正电子的存在和1932年Anderson在观察
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正电子湮没寿命谱仪
正电子湮没寿命谱仪:又名高分子材料分析仪1930年Dirac从理论上预言了正电子的存在和1932年Anderson在观察宇宙线中发现了正电子之后,揭开了研究物质和反物质相互作用的序幕。1951
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ORTEC高分子材料分析仪
系统集成测试报告参数:系统时间分辨率(用50μCi 60Co源测量):保证值:≤ 200ps;典型值:≤ 180ps ORTEC高分子材料分析仪 1930年Dirac从理论上预言了正电子的
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