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EQS二次离子质谱探针
径: 9mm·最高加热: 250℃·离子源: 电子轰击,可用于SNMS和RGA的单根灯丝 EQS 是差式泵式二次离子质谱,可分析来自固体样品的二次阴、阳离子和中性粒子
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SIMS二次离子质谱工作站
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高分辨质谱-FTMS
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高分辨质谱HRMS
服务详情项目介绍所用仪器:基质辅助激光解析串联飞行时间质谱仪服务价格:500 元依据标准号:JY/T 003-1996 有机质谱分析方法通则依据标准号:JY/T 003-1996 有机质谱分析
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CAMECA二次离子质谱IMS 7F-GEO
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KORE SURFACESEER S: TOF-SIMS二次离子质谱
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KORE SURFACESEER I: TOF-SIMS二次离子质谱
高表面灵敏度1x109 atoms/cm2 (ppm)导电和绝缘表面SIMS正离子和负离子模式质量分辨率使用飞行时间反射管的质谱分析仪> 3000 m / δm (FWHM)质量范围>1000m/z
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TOF.SIMS 5 飞行时间二次离子质谱
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高分辨质谱分子量鉴定
目前广泛使用的用于蛋白质鉴定的质谱分析主要使用两种类型质谱:一种是MALDI-TOF直接对分子量进行测量;另一种是使用ESI-MS高分辨率质谱分析电喷雾得到的多电荷信号,然后对信号进行去卷积
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syft选择离子流动管质谱
SIFT-MS的原理:SIFT-MS使用超软、精确控制的化学电离反应配上优良的质谱检测技术,可快速定量分析浓度低至pptv级别的VOCs和一些无机气体。Syft 仪器可采用多达8种试剂离子
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