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日立高新MC1000磁控溅射器
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日立高新FB2200聚焦离子束系统
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TM3030Plus日立高新台式显微镜
项目 内容 放大倍率 15 ~ 60,000 × (数码连续放大: - ×240,000) 设定观察条件 5 kV/15 kV
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TM3030日立高新台式显微镜
分辨率更高。 更好的锐度与衬度 在所有观察条件及观察模式下,这些功能都可以提高图像质量,尤其适用于高倍率下的观察。 有关日立高新台式显微镜TM3030:一家生产
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日立高新 Nanocute/E-SWEEP 扫描探针显微镜
技术参数:zei新型的Nanonavi控制系统Q值控制功能:DFM模式下探针振动的品质因子Q值可以控制。可极大提高相位、磁畴等的分辨能力。SIS Mode (Sampling
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日立高新扫描电子显微镜 FlexSEM 1000 II
可追溯测量过程的测量系统、符合ISO标准的表面粗糙度(面粗糙度、线粗糙度)的测定、此外还包括表面积、体积等其他测量功能以及报告输出等功能。 日立高新技术公司于2016年4月15日在全球发布
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日立高新TM4000/TM4000Plus扫描电镜
项目TM4000PlusTM4000放大倍率×10~×100,000 (底片倍率)×25~×250,000 (显示器倍率)加速电压5 kV、10 kV、15 kV图像信号背散射电子二次电子合成
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日立高新SU-1510扫描电子显微镜
技术参数 :二次电子分辨率3.0nm(高真空,30kV)背散射电子分辨率4.0nm(低真空:60Pa,30kV)倍率5 ~ 300,000倍加速电压0.3~30 kV样品台X 0~80mmY
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日立荧光分布成像系统EEM View
高新技术科学公司在中国和日本的注册商标什么是EEM View新技术可同时获得荧光 · 反射图像和光谱测定样品的光谱数据(反射光谱、荧光光谱)在不同光源条件(白光和单色光)下拍摄样品 (区域:Φ20
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日立电镜样品清洗仪Zone SEM/TEM
Zone SEM/TEM是为扫描电镜样品处理设计,快速处理清除引起样品表面污染的碳氢化合物且不损伤样品,很大程度上提高电镜的观测效果,还原了材料的真实性。 Zone SEM/TEM
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