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关键是什么晶相,楼主可以找到该晶相的晶面间距d(hkl)与晶面指数(h,k,l)及晶格常数a,b,c的关系式,而d(hkl)可由xrd测得,h,k,l为整数,所以有某些晶面衍射峰可测得a,b,c。也有专门的小计算软件可以使用,楼主可以百度一下。
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XRD峰值向左偏移通常是指向小角度偏移,意味着变大,常见是掺入了比主体大的杂原子.出现“掺杂”,杂质原子会使晶胞参数变大或变小;如果左移,说明晶胞参数变大,晶面间距变大;制样时要尽量使样品和样品板相平,制样做出的数据才准确.如样品高于
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XRD峰值向左偏移通常是指向小角度偏移,意味着变大,常见是掺入了比主体大的杂原子出现“掺杂”,杂质原子会使晶胞参数变大或变小;如果左移,说明晶胞参数变大,晶面间距变大;制样时要尽量使样品和样品板相平,制样做出的数据才准确.如样品高于
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XRD是X射线衍射仪的简称。其基本原理是:当X射线照射所测物质(晶体),相应晶面会产生衍射强度。随着发射X射线的转轴移动,不同角度的不同晶面会被完全扫描出来。从而根据布拉格方程2d sinθ=nλ,呈现出图谱。广角XRD一般指3°~80
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可以通过对材料进行XRD,分析其衍射图谱,获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息。1、定性分析(XRD的最主要功能),通过八强峰匹配标准pdf卡片,得知样品是由哪些物质构成的。2、通过版看峰宽等来分析结晶度,峰越尖锐,结晶度
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XRD图谱峰的面积表示晶体含量,面积越大,晶相含量越高。峰窄说明晶粒大,可以用谢乐公式算晶粒尺寸。XRD图谱峰高如果是相对背地强度高,表示晶相含量高,跟面积表示晶相含量一致。XRD图谱峰高如果是A峰相对B峰高很多,两峰的高度比“A/C
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一、指代不同1、小角衍射:利用电子显微镜中聚焦的电子束照射 样品,电子在原子的静电场作用下发生散射。2、XRD:通过对材料进行X射线衍射,分析其衍射图谱,获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。二、特点不同1、小角
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X射线衍射谱(XRD)是针对晶体结构物质的。如果样品是纯粹晶体的,不论是单晶体、多晶体还是混合晶体,则XRD谱会是:基线几近水平,峰形很窄、很尖锐、几近呈等腰三角形。如果样品是无定形的、非晶体,XRD谱没有衍射峰只会是一个或几个很宽的
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xrd峰强度高低说明相对背地强度高低,表示晶相含量,跟面积表示晶相含量一致。峰的面积表示晶体含量,面积越大,晶相含量越高。峰窄说明晶粒大,可以用谢乐公式算晶粒尺寸。峰的强度低是XRD图谱的性质,就是峰不是很尖锐,峰很钝,学名叫做宽化,这样反应的样品性质就是粒径很小,结晶度低是样品的性质,反映在图谱上就是有很大的噪音,图谱毛刺现象很重,需要平滑之后才能看。
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不同的指示物。1、小角度衍射:利用聚焦在电子显微镜直镜中的电子束辐照样品,在原子静电场的作用下,电子将束散射。2、x射线衍射(XRD):通过对材料进行x射线衍射,分析其衍射图案,获得材料的组成、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究