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FT160 XRF横空出世应对晶片级材料分析极限挑战
2020-05-06来源: -
日立分析仪器推出FT210型X射线荧光测厚仪和最新版FT Connect软件
2024-01-08来源: 日立分析仪器 -
Video: 每一项诊断都很重要
2021-11-11来源: Illumina因美纳(中国)科学器材有限公司 -
安捷伦于 ASMS 年会上荣获多项 2022 年度“科学家选择奖
2022-07-19来源: 安捷伦科技(中国)有限公司 -
安捷伦于 ASMS 年会上荣获多项 2022 年度“科学家选择奖
2022-06-21来源: 安捷伦 -
迟浩、贾辰熙等11人入选J. Proteome Res.虚拟专刊新星科学家
2021-01-29来源: ACS美国化学会 -
日立分析仪器推出新型FT160 XRF镀层分析仪
2020-02-25来源: 日立 -
李灿院士 江雷院士 黄维院士 郎建平院士等成果速递
2020-07-01来源: 纳米人 -
OpenLab CDS“新玩法”:这些仪器能用一个系统控制就好了
2020-01-06来源: 安捷伦科技 -
丹纳赫Q1收入增长12% Cepheid持续领跑 Sciex增长超10
2022-04-22来源:
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经费275万元!中国科协2024年度科技期刊项目(第一批)启动申报
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