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SiC半导体中膜厚测量解决方案
2022-07-22来源: 优尼康科技有限公司 -
傅里叶红外光谱仪在第三代Sic半导体应用
2020-12-21来源: 互联网 -
第三代半导体有望写入下月十四五规划 成国产替代希望
2020-09-17来源: 互联网综合 -
产线增建 产能提升 —— 牛津仪器加快推动资格认证计划,2023年等离子抛光将迎来产能大提升
2023-03-28来源: 牛津仪器科技 -
我国碳化硅器件制造关键装备研发取得重大进展
2018-05-07来源: 中华人民共和国科学技术部 -
新能源技术的EMI分析设计(二
2020-10-05来源: 互联网 -
ANSYS18.0 Maxwell&Simplorer软件功能更新概况
2020-09-28来源: 互联网 -
氮化镓/碳化硅技术真的能主导我们的生活方式?(二
2020-10-26来源: 互联网 -
氧化镓和碳化硅功率芯片的技术差异
2023-03-15来源: 互联网 -
SiC MOSFET在汽车和电源应用中优势显著(二)
2020-09-29来源: 互联网
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