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范围宽广测试仪可直接测量: a、研磨或切割面:电阻率≥0.5Ω?cm的单晶硅棒、定向结晶多晶硅块少子体寿命,切割片的少子相对寿命。 b、抛光面:电阻率在0.5~0.01Ω?cm范围内的硅单晶、锗单晶抛光片。范 围:0.5μs~6000
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少子寿命测试采用了独特的测量和分析技术,包括准稳定态光电导(QSSPC)测量方法。可灵敏地反映单、多晶硅片的重金属污染及陷阱效应,表面复合效应等缺陷情况。WCT在大于20%的超高效率太阳能电池(HIT,MWT,EWT,PREL,等等
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少子寿命测试采用了独特的测量和分析技术,包括准稳定态光电导(QSSPC)测量方法。可灵敏地反映单、多晶硅片的重金属污染及陷阱效应,表面复合效应等缺陷情况。WCT在大于20%的超高效率太阳能电池(HIT,MWT,EWT,PREL,等等
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导衰减;表面光电压;微波光电导衰减等对于不同的测试方法,测试结果可能会有出入,因为不同的注入方法,厚度或表面状况的不同,探测和算法等也各不相同。因此,少子寿命测试没有绝对的精度概念,也没有国际认定的标准样片的标准,只有重复性,分辨率的概念。对于同一样品,不同测试方法之间需要作比对试验,但比对结果并不理想。
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少子,即少数载流子,是半导体物理的概念。 它相对于多子而言。 半导体材料中有电子和空穴两种载流子。如果在半导体材料中某种载流子占少数,导电中起到次要作用,则称它为少子。如,在 N型半导体中,空穴是少数载流子,电子是多数载流子;在P型
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主要应用:分布监控和优化制造工艺其它应用:检测原始硅片的性能 测试过程硅片的重金属污染状况 评价表面钝化和发射极扩散掺杂的好坏 用得到的类似IV的开压曲线来评价生产过程中由生产环节造成的漏电。 主要特点: 只要轻轻一点就能实现硅片的关键性能测试,包括表面电阻,少子寿命,陷阱密度,发射极饱和电流密度和隐含电压。
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交流,围绕“1+1+1>3”、“自动化智能化”、“国产仪器发展”、“坐冷板凳下苦功夫”,对屹尧科技的战略合作关系、衡昇质谱品牌新标识和国产科学仪器未来发展等发表了看法。圆桌交流现场“1+1+1>3”:凝聚一切力量的战略合作 近年来,屹尧
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要点简介我们可以通过分析光致发光或荧光衰减来获得寿命。在拟合衰减时,必须考虑样品潜在的光物理过程,来评估拟合是否适当。本文,我们将使用Fluoracle®软件来对荧光衰减进行单指数、多指数和非指数拟合。● 荧光衰减可以包含多个发射
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v 国产液相色谱仪市场分析 一、HPLC市场整体状况 1、概述 现代科技和产业的发展,促进了以色谱仪器为代表的复杂样品的分离分析和分离纯化仪器的迅猛发展,各种更新、更适用的色谱技术和色谱仪器不断涌现,据不完全统计,仅液相色谱仪器的
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,他们也不负众望地在今年推出了ANYEEP TQ9100三重四极杆液质联用仪。今年BCEIA上,分析测试百科网采访了安益谱创始人和总经理张小华博士,除了带给大家关于产品进一步的惊喜,他也分享了自己对于创业和国产替代的思考,希望对年轻的创业者