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利用JEOL球差电镜的常规ADF/ABF探测器直接拍摄敏感材料
2022-11-25来源: JEOL -
活动重启,欢迎报名丨重庆大学—赛默飞电子束敏感材料表征研讨会
2023-07-20来源: 赛默飞材料与结构分析中国 -
直播邀请——赛默飞前沿电镜技术在电子束敏感材料表征上的突破和进展
2022-08-21来源: 赛默飞材料与结构分析中国 -
会议邀请:重庆大学—赛默飞电子束敏感材料表征研讨会
2022-03-14来源: 赛默飞材料与结构分析中国 -
网络研讨会:利用冷冻FIB和低剂量电子显微成像揭示敏感晶体和器件中的微结构
2022-03-01来源: 赛默飞电子显微镜(原FEI) -
敏感材料TEM试样制备的解决,将解开更大的微观世界
2022-07-18来源: 赛默飞材料与结构分析中国 -
应用分享丨使用iDPC技术对电子束敏感的金属有机骨架结构进行原子分辨率的直接成像
2021-07-14来源: 赛默飞材料与结构分析中国 -
热点技术丨iDPC成像技术简介及应用进展
2020-02-19来源: 赛默飞电子显微镜(原FEI) -
扫描电镜为什么要喷金?优缺点有哪些
2019-12-12来源: 互联网 -
样品制备:如何使用喷金仪(离子溅射仪)改善SEM 成像
2021-05-20来源: 丁香通
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