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X荧光分析仪镀层测厚专题无动画
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基于反射谱的薄膜测厚原理
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应用第二代S8TIGER型X射线荧光光谱仪分析萤石中的主次成分含量
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使用XRF-1800进行的膜厚测定、薄膜测定实例
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应用第二代S8 Tiger型X射线荧光光谱仪分析硅铁中的主次成分的含量
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冷原子荧光测汞仪最佳测试参数的选定和常见故障的排除
摘要:本文介绍了冷原子荧光测汞仪最佳测试参数的选定和常见故障的排除。
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在线测厚系统简介
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X射线荧光基础知识概述
本文介绍了X射线的发展历史并阐述了X射线荧光光谱法理论基础,讲述了X射线从光管出射到晶体衍射再到入射样品产生荧光并被探测器接收的整个过程的理论,可以让用户更深入理解XRF的原理和应用。
来源:北京安科慧生科技有限公司 相关产品:水泥全元素X荧光光谱仪Merak-CEM 资料
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全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)组成结构
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超薄Au-Pd-Ni镀层层厚分析
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