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TEM 制样:FIB制样的优势和缺陷
来源:复纳科学仪器(上海)有限公司 相关产品:Gentle Mill离子减薄仪/离子精修仪 应用
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离子精修仪和低能离子枪有效去除FIB制样产生的非晶层和损伤层
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透射电镜的构造
来源:透射电镜 资料
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透射电镜原位样品杆加热芯片设计原理解析
来源:复纳科学仪器(上海)有限公司 相关产品:DENS 透射电镜原位样品杆 应用
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中南大学 透射电镜工作原理 课件
来源:透射电镜 资料
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Leica UM EM 综合产品目录2020版
来源:徕卡显微系统(上海)贸易有限公司 相关产品:德国徕卡 真空冷冻传输系统 EM VCT500 资料
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Leica EM TIC 3X离子研磨仪
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FIB马达台摇摆功能
摇摆FIB马达台摇摆功能/日立FIB的马达台摇摆功能可以在样品加工的同时不断改变离子束的加工方向,对消除“Curtaining effect”效果非常明显。
来源:天美仪拓实验室设备(上海)有限公司 应用
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FIB-SEM-Ar“三束“系统
FIB-SEM-Ar“三束“系统FIB-SEM-Ar“三束“系统/日立最新双束FIB系统 NX2000(图1)可以通过对已经加工好的样品再用Ar+离子束进行加工,达到更好的加工效果 。
来源:天美仪拓实验室设备(上海)有限公司 应用
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薄片样品的制备技巧分享
来源:标乐中国 相关产品:标乐厂家-Buehler PetroThin 薄切片系统 应用
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