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Force Spectroscopy with Atomic Force Microscope
来源:dujuan1004 资料
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用AFM做力调制成像
来源:布鲁克(北京)科技有限公司-纳米表面仪器 相关产品:Bruker第八代多功能扫描探针显微镜 应用
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力平衡传感技术
来源:TA仪器 应用
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Atomic Force Microscopy Studies in Various Environments
来源:dujuan1004 资料
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Application of Atomic Force Microscopy on Particle Characterization
来源:dujuan1004 资料
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扫描探针和AFM原子力显微镜:技术综述和更新2008
来源:布鲁克电子显微纳米分析仪器部 相关产品:Bruker第八代多功能扫描探针显微镜 资料
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Graphene Oxide and Its Applications Revealed by Atomic Force Microscopy
来源:dujuan1004 资料
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Several Aspects of High Resolution Imaging in Atomic Force Microscopy
来源:dujuan1004 资料
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用原子力显微镜AFM做纳米识别刮痕和磨损检测
来源:布鲁克电子显微纳米分析仪器部 应用
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用AFM探测纳米尺度的力
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