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X荧光能谱法同时测定工业硅中铁铝钙
来源:赛默飞元素分析仪器 相关产品:赛默飞 ARL QUANT'X 能量色散X荧光光谱仪 应用
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QuanX型荧光能谱仪晶园上薄膜纳米级薄膜厚度均匀度测量
使用X-荧光能谱仪进行多层薄膜厚度测量技术在半导体材料镀层分析上广泛使用。但是纳米级薄膜测量技术仍然是测量技术的难点。本文详细介绍了使用QuanX 荧光能谱仪进行这种分析的全过程
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布鲁克X射线荧光能谱仪EDXRF-刑侦应用
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FTIR talk‘问答集’-从红外光谱中了解到什么
物质是由分子组成。它的分子吸收其一特定波长的光(红外光),其光能量可转变为分子各自固有的振动。 请看全文。
来源:gateway 资料
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不同聚集态的组成及其光谱性质分析
来源:L120623 资料
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工具钢中9 元素的EDXRF 同时分析
来源:matrix 资料
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卫浴行业镀层检测解决方案
来源:江苏一六仪器有限公司 相关产品:江苏一六XU-100性价比多功能XRF_镀层测厚仪_膜厚测试仪_X荧光光谱仪 应用
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