-
IM-1000E堀场CEMS参数
来源:HORIBA,LTD株式会社堀场制作所 过程与环境 资料
-
Horiba堀场LA-960激光粒度仪
LA-960秉承HORIBA一直以来用独创设计主导产业的优秀传统,是LA系列最新的突破性演变,通过直观的软件、独特的配件和高效的性能,将科学认知推向未来
来源:HORIBA科学仪器事业部(Jobin Yvon光谱技术)堀场 资料
-
核磁共振匀场技术匀场原理
来源:yxh04 资料
-
基于反射谱的薄膜测厚原理
来源:kflsjjfdl 资料
-
超薄Au-Pd-Ni镀层层厚分析
来源:铂悦仪器(上海)有限公司 相关产品:M1 MISTRAL镀层测厚仪 应用
-
厚叶算盘子中黄烷醇类成分的研究
来源:健康千万家 资料
-
X荧光分析仪镀层测厚专题无动画
来源:uytdo 资料
-
使用XRF-1800进行的膜厚测定、薄膜测定实例
来源:岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司 资料
-
使用XRF-1800进行的膜厚测定、薄膜测定实例
钢板涂层、薄膜膜厚测定、薄膜测定无彩色涂层钢板的测定实例;电容器薄膜的测定实例
来源:岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司 相关产品:XRF-1800型波长色散型X射线荧光光谱仪 应用
热榜
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net