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FIB-SEM-Ar“三束“系统
FIB-SEM-Ar“三束“系统FIB-SEM-Ar“三束“系统/日立最新双束FIB系统 NX2000(图1)可以通过对已经加工好的样品再用Ar+离子束进行加工,达到更好的加工效果 。
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低温光学显微镜的新成像工具
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TEM 制样:FIB制样的优势和缺陷
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PicoView纳喷雾离子源
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垂直镜筒设计双束FIB NX9000
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高效率加工FIB MI4050
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徕卡电镜制样产品资料_Leica EM VCT500真空冷冻传输系统_样本、参数、价格、应用案例、配置对比等
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FIB马达台摇摆功能
摇摆FIB马达台摇摆功能/日立FIB的马达台摇摆功能可以在样品加工的同时不断改变离子束的加工方向,对消除“Curtaining effect”效果非常明显。
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徕卡3D表面测量系统_Leica DCM8工业白光共聚焦显微镜_样本、参数、价格、案例等
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中低温发电/余热回收/吸收式制冷系统优化
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