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脂质体学的最终边界:不饱和脂类异构物的深度分析
来源:wangying1990 资料
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Orbitrap Exploris 240实现蛋白质组深度分析
来源:赛默飞色谱与质谱 应用
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Orbitrap Exploris 240实现蛋白质组深度分析
来源:赛默飞色谱与质谱分析 应用
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Orbitrap Exploris 240实现蛋白质组深度分析
来源:赛默飞色谱与质谱分析 应用
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二次离子质谱深度剖面分析氢化微晶硅薄膜中的氧污染
来源:amelican_beauty 资料
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XPS深度分析—LiPON固态电解质
来源:岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司 相关产品:岛津/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS SUPRA+ 应用
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不同氩离子刻蚀模式对膜材料深度分析中元素化学态的影响
来源:岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司 相关产品:岛津/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS SUPRA+ 应用
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不同氩离子刻蚀模式对膜材料深度分析中元素化学态的影响
来源:岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司 相关产品:岛津/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS SUPRA+ 应用
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运用拉曼光谱——聚合物分析案例
运用PAMANtouch拉曼光谱技术进行聚合物分析·透明样品可进行非破坏测量和深度分析·微小异物和埋藏异物无需样品前处理即可分析·结晶和定向分析
来源:北京绿绵科技有限公司 资料
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ToFSIMS的应用实例:锂离子电池中钝化层的表征
来源:北京艾飞拓科技有限公司 相关产品:IONTOF / TOFSIMS 飞行时间二次离子质谱 / TOF-SIMS M6型 应用
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