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高分辨电子显微学简介Introduction to HREM
高分辨电子显微学简介Introduction to HREM希望对大家有所帮助!
来源:透射电镜 资料
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从大块固体到高分子材料,徕卡为您提供最佳的电镜制样方案
来源:天美仪拓实验室设备(上海)有限公司 资料
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使用LAMBDA 265UV/Vis分光光度计测量金纳米颗粒溶液
来源:珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司 相关产品:PerkinElmer LAMBDA 265 紫外/可见分光光度计 应用
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使用LAMBDA 265 UV/Vis 分光光度计测量金纳米颗粒溶液
来源:珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司 相关产品:PerkinElmer LAMBDA 265 紫外/可见分光光度计 应用
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电镜制样-LeicaCLEM_介绍
光镜电镜联用技术(CLEM)实现对同一样品将 荧光显微学分析和 电子显微镜分析 的相关联。 这一方法实现光镜下对大区域的高效成像和电镜下对感兴趣区域的快速检测。
来源:徕卡显微系统(上海)贸易有限公司 资料
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扫描电子显微镜在陶瓷材料中的应用.pdf
来源:电子 资料
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日本电子Spiral TOF 样本
来源:日本电子株式会社(JEOL) 资料
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Sievers分析仪应用于微电子行业
微电子Sievers分析仪应用于微电子行业无Sievers分析仪应用于微电子行业
来源:Sievers分析仪(威立雅) 应用
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PZT陶瓷靶材的制备及相成分分析.pdf
来源:电子 资料
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全新电子光学仪器进展
JEOL是全世界电子光学仪器发展的引领者,近年推出的一系列全新的电子光学产品性能好,稳定性强且智能化程度高,操作得心应手,是材料表征和分析的绝佳选择。
来源:日本电子株式会社(JEOL) 相关产品:JEM-ARM200F NEOARM 原子分辨分析型球差校正透射电镜 资料
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