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蔡司 Crossbeam 340 和 Crossbeam 540专用于纳米断层成像和纳米加工的 FIB-SEM 系统
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来源:蔡司光学仪器(上海)国际贸易有限公司 资料
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单根GaN纳米线的拉曼成像
来源:HORIBA科学仪器事业部 应用
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纳米材料的光谱解决方案(AFM-Raman/TERS/SNOM) — 中文样本
随着扫描探针隧道显微镜(SPM)在上世纪80年代的出现,纳米尺度成像成为了可能。该技术使材料表面各种物理特性的表征方法得以快速持续发展,然而如何实现无标记的化学组分表征仍是一项挑战。
来源:HORIBA科学仪器事业部 资料
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纳米纤维的金属镀膜可增强电镜成像效果
来源:爱普科科技 相关产品:普罗美特LUXOR Pt 磁控离子溅射仪 应用
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可调谐低损耗一维InAs纳米线的表面等离激元研究
来源:QUANTUM量子科学仪器贸易(北京)有限公司 相关产品:超高分辨散射式近场光学显微镜 应用
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纳米材料分析案例
运用RAMAN进行纳米碳材料分析·CNT的直径和石墨烯的边缘结构等,各种各样的物性信息·G带D带强度比,碳材料中缺陷的评价量·TERS(尖端增强放大散射)10纳米分辨率的成像
来源:北京绿绵科技有限公司 相关产品:AutoID 全自动质谱校正和分子式识别软件 资料
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利用原子力显微镜对半导体制造中的缺陷进行检测与分类
来源:Park帕克原子力显微镜 相关产品:帕克 NX-Wafer 原子力显微镜 资料
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利用原子力显微镜对半导体制造中的缺陷进行检测与分类
来源:Park帕克原子力显微镜 相关产品:帕克 NX-Wafer 原子力显微镜 应用
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利用微流体系统、磁性纳米颗粒以及高内 涵成像完成体外 3D 肿瘤实验
来源:美谷分子仪器(上海)有限公司 应用
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利用原子力显微镜对半导体制造中的缺陷进行检测与分类
来源:Park帕克原子力显微镜 相关产品:帕克 NX-Wafer 原子力显微镜 应用
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拉曼光谱仪2024Q1市场分析| 科研之光VS监管之盾的双重选择
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