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纳米中心介绍文档
来源:bipt 资料
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QuanX型荧光能谱仪晶园上薄膜纳米级薄膜厚度均匀度测量
使用X-荧光能谱仪进行多层薄膜厚度测量技术在半导体材料镀层分析上广泛使用。但是纳米级薄膜测量技术仍然是测量技术的难点。本文详细介绍了使用QuanX 荧光能谱仪进行这种分析的全过程
来源:muour 资料
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工业显微镜应用-含纳米管的聚合物内形成的纳米级或微米级结构大幅度增大电导率
来源:徕卡显微系统(上海)贸易有限公司 资料
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SU9000在观察碳纳米管方面的应用
来源:天美仪拓实验室设备(上海)有限公司 应用
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纳米硅薄膜的镜反射红外光谱研究
来源:赛默飞测量控制和样品识别 资料
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利用导电探针原子力显微镜(C-AFM)测量碳纳米管薄膜导电性
来源:Park帕克原子力显微镜 相关产品:帕克 NX20 原子力显微镜 应用
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扫描电镜纳米膜应用案例
来源:深圳市善时仪器有限公司 相关产品:善时仪器EDX-1200合金分析仪 应用
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EM12 精致型多入射角激光椭偏仪
;也可用于同时测量块状材料的折射率n和消光系数k;亦可用于实时测量纳米薄膜动态生长中膜层的厚度、折射率n和消光系数k。多入射角度设计实现了纳米薄膜的绝对厚度测量。 EM12采用了量拓科技多项专利技术。
来源:liangtuokeji 资料
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2014中国(广州)国际纳米材料展览会
来源:18721881895 资料
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高分辩衍射仪XPert Pro MRD
来源:an001 资料
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