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微波消解薄膜
来源:上海新仪微波化学科技有限公司 相关产品:MASTER系列高通量密闭微波消解/萃取/合成工作站 应用
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聚酯薄膜成分
来源:zhaoxia1989 资料
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介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构
目前,在未来能量转换和存储体系中,对介孔材料薄膜进行了广泛的研究。由于这些薄膜具有多孔的材料特性,可以获得用于电子传递的高界面表面积。控制这些界面结构对这类体系性能是至关重要的。
来源:安东帕(上海)商贸有限公司 相关产品:安东帕SAXSpoint 5.0 实验室光束线装置 资料
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LB技术-薄膜化学的制备方法简介
薄膜薄膜化学的制备无LB技术是指把液体表面的有机单分子膜转移到固体衬底表面上的一种成膜技术,得到的有机薄膜称为LB薄膜,介绍了LB膜技术的相关原理及测试方法
来源:上海谓载科技有限公司 相关产品: Kibron G1 LB膜分析仪 应用
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QuanX型荧光能谱仪晶园上薄膜纳米级薄膜厚度均匀度测量
来源:uytdo 资料
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EVA薄膜样品热行为研究
来源:圆派科学仪器(上海)有限公司 相关产品:差示扫描量热仪 DSC 3500 Sirius 应用
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多层薄膜的可视观察的同步测定
来源:岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司 相关产品:全谱直读型ICP-AES ICPE-9800 应用
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使用XRF-1800进行的膜厚测定、薄膜测定实例
钢板涂层、薄膜膜厚测定、薄膜测定无彩色涂层钢板的测定实例;电容器薄膜的测定实例
来源:岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司 相关产品:XRF-1800型波长色散型X射线荧光光谱仪 应用
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食品包装薄膜透氧仪
来源:济南兰光机电技术有限公司 资料
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QuanX型荧光能谱仪晶园上薄膜纳米级薄膜厚度均匀度测量
使用X-荧光能谱仪进行多层薄膜厚度测量技术在半导体材料镀层分析上广泛使用。但是纳米级薄膜测量技术仍然是测量技术的难点。本文详细介绍了使用QuanX 荧光能谱仪进行这种分析的全过程
来源:muour 资料
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