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QuanX型荧光能谱仪晶园上薄膜纳米级薄膜厚度均匀度测量
来源:uytdo 资料
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QuanX型荧光能谱仪晶园上薄膜纳米级薄膜厚度均匀度测量
使用X-荧光能谱仪进行多层薄膜厚度测量技术在半导体材料镀层分析上广泛使用。但是纳米级薄膜测量技术仍然是测量技术的难点。本文详细介绍了使用QuanX 荧光能谱仪进行这种分析的全过程
来源:muour 资料
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使用配备 UMA 附件的 Cary 5000 测量折射率薄膜厚度
来源:安捷伦科技(中国)有限公司 相关产品:Agilent Cary 5000 紫外-可见-近红外分光光度计 应用
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表征非晶碳薄膜的厚度和光学常数
来源:HORIBA科学仪器事业部 相关产品:HORIBA UVISEL Plus研究级经典型椭偏仪 应用
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岛津XPS技术表征石墨烯薄膜的厚度
来源:岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司 相关产品:岛津/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS SUPRA+ 应用
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晶圆片薄膜厚度测量X-射线荧光能谱仪方法
来源:赛默飞世尔科技元素分析部(Elemental) 资料
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OLED中ITO薄膜的透过率、厚度应用方案
透过率高于80%。另一方面,薄膜的厚度势必会对光在其中的透过率产生影响,当厚度大于70nm时,透过率将减小。因而在OLED的生产和研发过程中,ITO导电膜的透过率以及厚度是需要被准确检测和表征的
来源:海洋光学 资料
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从拉曼光谱推导硬碳薄膜的物理性质
来源:HORIBA科学仪器事业部 应用
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AUTO SE & SMART SE 椭圆偏振光谱仪 - 中文样本
来源:HORIBA科学仪器事业部 相关产品: HORIBA Auto SE一键式全自动快速椭偏仪 资料
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21PlusHD Upgrade 传统在线测量系统
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