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QuanX型荧光能谱仪晶园上薄膜纳米级薄膜厚度均匀度测量
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QuanX型荧光能谱仪晶园上薄膜纳米级薄膜厚度均匀度测量
使用X-荧光能谱仪进行多层薄膜厚度测量技术在半导体材料镀层分析上广泛使用。但是纳米级薄膜测量技术仍然是测量技术的难点。本文详细介绍了使用QuanX 荧光能谱仪进行这种分析的全过程
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薄膜—电导率法总有机碳分析仪测量结果不确定度的评定
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聚酯薄膜成分
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微波消解薄膜
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布料撕裂试验(JIS L1096 梯形法)
性能的评估方法。其中,撕裂试验规定了A法(单舌法)、B法(双舌法)、C法(梯形法)、D法(摆锤法)、E法(ISO 摆锤法)等5种试验方法。 本文介绍使用C法(梯形法)进行面料撕裂试验的案例。
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白度测定仪、白度仪、智能白度仪、智能白度测定仪、面粉白度仪、淀粉白度仪
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布料撕裂试验(JIS L1096 单舌法)
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塑料包装薄膜气体渗透仪
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全自动薄膜相变分析仪技术优势
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