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通过衍射峰的半高宽和峰高比可以研究Ni电极材料粉末颗粒的微结构特征,本文描述了应用X射线衍射法测定Ni阳电极材料结构、计算其衍射峰的半高宽和峰高比。求解峰高比时改进测定方法,采用定点测量的方法,减小了在密封式管条件下由于计数小而产生很大的计数统计误差1/ ,使定量更准确。从而可以更好地了解Ni电极材料的电极性能,便于建立工艺条件。
来源:北京普析通用仪器有限责任公司
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(Bragg 方程);使用不同的靶也就是X射线管产生的 X 射线的波长不同;根据 Bragg 方程,某一间距为 d 的晶面族其衍射角将不同, 各间距值的晶面族的衍射角将表现出有规律的改变。因此,使用不同靶材的X射线管所得到的衍射图上的衍射峰的位置
来源:利曼中国
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应用
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将不同,这样在X射线衍射仪测量时,有的位置参与衍射的(200)晶面增多,导致测量的(200)衍射峰的强度增加;而有的位置参与衍射的(200)晶面减少,导致测得的(200)衍射峰的强强度减弱。而残余奥氏体含量测量的标准《YB/T 5338
来源:利曼中国
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应用
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材料定性所谓三强线是指比对纯物质强的三根衍射峰位置,如果三强线位置比对成功,一般而言可以初步判定该种物质的存在,具体的说,三强线指得是PDF卡片上强的三个衍射峰的值。以NaCl为例,参考05-0628,强的三峰是:200面:d
来源:利曼中国
应用
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材料表面的面积。摇摆法是在探测器接收衍射信号的过程中,使X射线管和探测器在试样表面法线与应力测试方向所构成的psi平面内左右摇摆一定的角度,获得的衍射峰形是在摆动范围内的各个角度下获得衍射峰线性叠加的结果。衍射峰曲线是由材料表面参与衍射的
来源:利曼中国
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应用
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X射线衍射图。X射线衍射(XRD)是目前研究晶体结构(如原子或离子及其基团的种类和位置分布,晶胞形状和大小等)有力的方法。XRD特别适用于晶态物质的物相分析。晶态物质组成元素或基团如不相同或其结构有差异,它们的衍射谱图在衍射峰数目、角度位置
来源:利曼中国
相关产品:APD 2000 PRO 粉末X射线衍射仪
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分数的NaCl,制成样片后,进行X射线衍射分析,扣除X射线衍射背景后计算出FeO(Fe_3O_4)400衍射峰和NaCl 220衍射峰的积分强度比,以此为y轴,以FeO含量为x轴作图,拟合出线性方程,并以此测量线定量测定了待测矿石中的FeO
来源:bluedays
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。 本通讯使用日立F7000型分光光度计,及自动滤光器附件,测定了淀粉样品的三维指纹光谱。自动滤光器附件可根据波长自动加入滤光片,排除多级衍射峰的干扰,快速获得样品的三维谱图。
来源:天美仪拓实验室设备(上海)有限公司
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析。晶态物质组成元素或基团如不相同或其结构有差异,它们的衍射谱图在衍射峰数目、角度位置、相对强度次序以至衍射峰的形状上就显现出差异。因此,通过样品的X射线衍射图与已知的晶态物质的X射线衍射谱图的对比分析便可以完成样品物相组成和结构的定性鉴定;通过对样品衍射强度数据的分析计算,可以完成样品物相组成的定量分析;
来源:santa
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用QuanX 系统分析7片来自韩国Alpha Science Corp.的LG Innotek晶圆片的薄膜厚度。样品是有金属镀层的石英晶圆片, 不需要样品制备。为了尽量减少衍射峰的出现,晶圆片对X-射线的角度需相同。晶圆片有两种,激发
来源:赛默飞世尔科技元素分析部(Elemental)
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