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采用 MappIR 进行晶圆测试和分析 Flyer (191518_CHN)
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来源:珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司 应用
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全自动晶圆缺陷检查系统(徕卡金相显微镜)
来源:圆派科学仪器(上海)有限公司 相关产品:Leica DM2700M 徕卡正置材料显微镜 应用
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Atlas在半导体晶圆检测中的应用
来源:天美仪拓实验室设备(上海)有限公司 应用
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晶圆片薄膜厚度测量X-射线荧光能谱仪方法
净峰强度。 采用基本参数法(FP)测厚软件。 分析结果表明 QuanX 系统能够快速、方便和精密地测量单层和多层的晶圆片。 QuanX 晶圆片
来源:赛默飞世尔科技元素分析部(Elemental) 资料
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FT-IR自动分析系统测量硅晶圆中的元素杂质 Application Note (213362_CHN)
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来源:珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司 相关产品:珀金埃尔默 LactoScope 300™ FT-IR乳成分分析仪 应用
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拉曼光谱表征无定形硅和微晶硅
来源:赛默飞测量控制和样品识别 相关产品:DXR3激光共焦显微拉曼光谱仪 应用
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外圆切割机的工作原理及种类
来源:沈阳科晶自动化设备有限公司 相关产品:SYJ-DS100精密手动划片机 资料
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改进半导体制造,海洋光学为晶圆蚀刻提供全光谱等离子监测解决方案
来源:北京爱蛙科技有限公司 应用
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使用配备固体自动进样器的 Agilent Cary 7000全能型分光光度计 (UMS) 进行涂层晶圆分析
来源:安捷伦科技(中国)有限公司 相关产品:Agilent Cary 7000 全能型分光光度计 (UMS) 应用
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谈谈进口微波样品处理仪器
微波消解 微波合成 谈谈进口微波样品处理仪器 吉林大学 化学系 金钦汉 教授 前言:国际上先进的分析实验室都极为重视样品前处理工作,采样和样品前处理投入约占全部分析和数据处理投入的67%。样品前处理
来源:培安有限公司 相关产品:CEM STAR-Plus 6/2 循环单相聚焦微波消解系统 资料
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