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钕_镝_镱原子L_1和L_2次壳层的荧光产额
摘要 分析了2 MeV质子电离钕、镝和镱产生的LX射线强度谱,求得了L1和Lz次壳层的荧光产额.它们的值与理论值、汇编值以及报道的实验值在误差范围内相符。
来源:F20090330 资料
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新型原子力显微镜:FX40,自动原子力显微镜
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iCAP 7000 Series 测定高纯氧化钆中镱和镥
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Park XE15集多功能于一体的原子力显微镜
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利用原子力显微镜对半导体制造中的缺陷进行检测与分类
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park NX20业界领先的针对失效分析和大样本研究的原子力显微镜
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Ultimate F-C8不同取代位 氟原子不同取代位测定报告
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来源:月旭科技(上海)股份有限公司 应用
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利用导电探针原子力显微镜(C-AFM)测量碳纳米管薄膜导电性
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