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各位大哥大姐,小弟在做扫描电镜过程中遇到一些问题:
1、使用JEOL JSM-6380LA型电镜做EDS,加速电压15 kV,光阑2,spotsize50,WD=10,放大倍数为5000X,利用“点”分析,我想知道电子束刚刚轰击到
2009年10月29日发布人:阿九
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有朋友让我做几个样品,要求是先用电子束(最好是EDS模式)对一个点进行1分钟的大电流密度辐照,而后一般就会产生一个污染斑,而后倾转样品,使污染斑变成两个,测量二者间距和倾转角,可以得到样品的大致厚度。
问题是:俺们的2100F用EDS
2015年08月03日发布人:铃儿响叮当
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? 我们实验室电镜型号是TENCI F20. 在试验操作方面请大家帮忙给些建议吧,谢谢。
若效果不理想,可否考虑用复型萃取?,eds点分析估计够戗,面扫描还是有可能定性看出MgSi析出相,但要确定是Mg5Si6或许要考虑标定衍射花样
2015年02月04日发布人:龙泉
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请教一下我做的60nm左右的合金纳米粒子,怎么做元素分析呢?您的tem在哪里呢,不好意思啊 我不是做这方面的 不是太懂 如果是纳米级别的杂质 也不知道杂质的具体大小 选择50-100nm 做做多方面的eds吧 点的 区域的 mapping
2015年03月02日发布人:daomei
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? 我们实验室电镜型号是TENCI F20. 在试验操作方面请大家帮忙给些建议吧,谢谢。
若效果不理想,可否考虑用复型萃取?,eds点分析估计够戗,面扫描还是有可能定性看出MgSi析出相,但要确定是Mg5Si6或许要考虑标定衍射花样
2016年03月08日发布人:jkh123
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请教一下我做的60nm左右的合金纳米粒子,怎么做元素分析呢?您的tem在哪里呢,不好意思啊 我不是做这方面的 不是太懂 如果是纳米级别的杂质 也不知道杂质的具体大小 选择50-100nm 做做多方面的eds吧 点的 区域的 mapping
2015年07月06日发布人:8899
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说是EDS对C元素点扫数据不准,那如果用线扫经过一个夹杂物,相对周围基体,夹杂物位置的C元素线扫曲线出现峰值,能否说明这个地方富集C元素,相对基体?
欢迎大家讨论:),我记得老师说过对于C元素 定性分析都不行吧,正常的话WDX比EDX
2015年01月26日发布人:rrra6
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镝和铁重峰造成的, 也有人告诉我这个镝的曲线是一个基底 并不是真正的镝的曲线,SEM的EDS不是很准的,定量性很差,不建议用这个做分布,另外可以试试mapping,你说的mapping 就是面扫吧?,嗯,面扫成像,这个感觉比线扫靠谱点,因为
2015年02月10日发布人:燕子@
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镝和铁重峰造成的, 也有人告诉我这个镝的曲线是一个基底 并不是真正的镝的曲线,SEM的EDS不是很准的,定量性很差,不建议用这个做分布,另外可以试试mapping,你说的mapping 就是面扫吧?,嗯,面扫成像,这个感觉比线扫靠谱点,因为
2016年03月10日发布人:n111
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镝和铁重峰造成的, 也有人告诉我这个镝的曲线是一个基底 并不是真正的镝的曲线,SEM的EDS不是很准的,定量性很差,不建议用这个做分布,另外可以试试mapping,你说的mapping 就是面扫吧?,嗯,面扫成像,这个感觉比线扫靠谱点,因为
2015年06月10日发布人:n111